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등록상등록상
| 등록상등록상 |
표시 |
|---|---|
| 1 der | ® |
| AERIS | ® |
| AERIS PANALYTICAL | ® |
| (ASD Inc)标志 | ® |
| 积累 | ® |
| 放大分析 | ® |
| AMPLIFY ANALYTICS (+ Logo) | ® |
| 阿基米德 | ® |
| AXIOS | ® |
| CHI-BLUE | ® |
| Claisse | ® |
| Claisse (+ Logo) | ® |
| (CLS标志) | ® |
| 概念生命科学 | ® |
| 概念生命科学(+ Logo) | ® |
| CREOPTIX | ® |
| 根据 | ® |
| 根据3. | ® |
| dCore | ™ |
| EAGON | ® |
| Eagon 2 | ® |
| 容易一枝 | ® |
| 苍天 | ® |
| ε | ® |
| εX-FLOW | ® |
| 专家一枝 | ® |
| 容易一枝 | ® |
| FieldSpec | ® |
| FIPA | ™ |
| 萤石'X | ® |
| GALIPIX 3 d | ® |
| 双子座 | ™ |
| goLab | ™ |
| 手持2 | ™ |
| HIGHSCORE | ® |
| Hydrosight | ™ |
| iCore | ™ |
| Indico职业 | ™ |
| Insitec | ® |
| (Insitec标志) | ® |
| (Insitec测量系统标志) | ® |
| ISys | ® |
| LabSizer | ™ |
| LabSpec | ® |
| LeNeo | ® |
| LeDoser | ™ |
| LeDoser-12 | ™ |
| M3的朋友 | ™ |
| M4 | ™ |
| MADLS | ® |
| 莫尔文 | ® |
| (三角山标志+马尔文仪器) | ® |
| 汉字中的马尔文 | ® |
| 莫尔文仪器 | ® |
| 汉字马尔文仪器 | ® |
| 莫尔文链接 | ™ |
| (马尔文加山标志) | ® |
| bob欧宝体育 | ® |
| bob欧宝体育马尔文分析汉字 | ® |
| bob欧宝体育MALVERN p分析，片假名 | ® |
| bob欧宝体育韩文分析文 | ® |
| bob欧宝体育MALVERN panalytics (+ X标志) | ® |
| Mastersizer | ® |
| Mastersizer 2000 | ™ |
| MC(风格) | ® |
| 耐多药 | ® |
| Microcal | ® |
| Morphologi | ® |
| (三角山标志) | ® |
| Nanosight | ® |
| 傲慢的人 | ™ |
| 油痕 | ® |
| OMNIAN | ® |
| OMNISEC | ® |
| OMNITRUST | ® |
| PANALYTICAL | ® |
| PANALYTICAL LOGO(图片) | ® |
| 哑剧 | ® |
| PEAQ-ITC | ® |
| PIXCEL | ® |
| PIXCEL 1 d | ® |
| PIXCEL 3 d | ® |
| PIXIRAD | ® |
| QualitySpec | ® |
| Spraytec | ™ |
| 风场 | ® |
| SST-MAX | ® |
| 超锋利管 | ® |
| STRATOS | ® |
| 超级问 | ® |
| SyNIRgi | ™ |
| TerraSpec | ® |
| TheOx®先进 | ® |
| Ultrasizer | ™ |
| 金星MINILAB | ® |
| ViewSpec | ™ |
| viscogel | ™ |
| Viscotek | ® |
| Viscotek SEC-MALS | ™ |
| WAVECHIP | ® |
| 我们在小的东西上做大 | ™ |
| (X标志) | ® |
| X 'CELERATOR | ® |
| 爱视宝3. | ® |
| Zetasizer | ® |
| ZETIUM | ® |
| z螺旋 | ® |
특허
bob欧宝体育莫尔文Panalytical은다음과같은특허및특허응용분야에의해보호되는다양한시장주도의고유제품을보유하고있습니다。
Mastersizer
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| Ep1167946b1 (gb, fr, de60135521d1) | 샘플취급시스템 | 水电中压，水电低压，水电EV |
| GB2364774B US6800251B2 |
입자특성분석장치에사용되는샘플취급시스템 | 液压中压，液压低压 |
| GB2494735B | 광산란을통한입자크기분포측정장치 | MS3000, MS3000E |
| CN104067105B Ep2756283b1 (gb, fr, de602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B |
광산란을통한입자크기분포측정장치및방법 | MS3000, MS3000E |
| US10837889B2 GB2494734B |
광산란을통한입자크기분포측정장치및방법 | MS3000, MS3000E |
Zetasizer
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US7217350B2 |
@면전하로@한이동성및효과 | Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix |
| EP2467701A1 CN102575984B US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US20200096443A1 |
개선된단일산란모드검출을통해복합유체의동적광산란기반미세유변학 | Zetasizer Advance Range, Nano ZSP, Helix |
| CN103608671B CN105891304B Ep2721399b1 (be, ch + li, dk, fr, gb, nl, de602012031338.2, it502017000050268) JP06023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US20200072888A1 |
면전하측정 | 제타플레이트셀액세서리 |
| US8702942B2 CN103339500B Ep2652490b1 (gb, fr, de602011046775.1) JP06006231B2 JP06453285B2 US10648945B2 |
확산장벽을사용한레이저도플러전기동법 | Zetasizer Advance Range, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP |
| Ep2742337b1 (gb, fr, de602012018122.2) US9816922B2 |
미립자의이중모드특성분석 | Zetasizer螺旋 |
| US10197485B2 US10520412B2 US10845287B2 EP3353527A1 JP2018535429A CN108291861A |
입자 특성 | Zetasizer前进范围 |
| US10119910B2 | 입자특성분석기기 | Zetasizer Advance: Ultra및Pro |
| US8675197B2 JP6059872B2 EP2404157B1 |
입자 특성 | Zetasizer Advance액세서리 |
| EP3521806A1 US20210063295A1 CN111684261A WO2019154882A1 |
다각도동적광산란 | Zetasizer Advance: Ultra |
Insitec
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US7418881B2 EP1592957B1 (GB) |
희석시스템및방법 | Insitec(일부제품) |
| US7871194B2 EP1869429A2 |
희석시스템및방법 | Insitec(일부제품) |
| EP2640499B1 (GB) | bmp라bmp분산기와분말혼합방법 | Insitec干 |
Morphologi
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| Ep2106536b1 (gb, fr, de602008039489.1) US8111395B2 US8564774B2 |
이질성의분광광도법조사 | Morphologi G3-ID |
| GB2522735B JP6560849B2 |
분말분산의방법및장치 | 形态学G3- id，形态学G3 |
Viscosizer
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US2018067901A1 JP2018511129A EP3274864A1 CN107430593A |
다중성분모델매개변수화 | Viscosizer TD |
水电的景象
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8456633B2 | 분광공정모니터링 | 水电的景象 |
| CN104704343B EP2864760A2 US10509976B2 |
불균일유체샘플특성분석 | 水电的景象 |
NanoSight
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US7751053B2 JP04002577B2 Ep1499871b1 (fr, de60335872.1) GB2388189B US7399600B2 |
입자분석을위한광학적검출 | NanoSight NS300 NanoSight NS500 NanoSight LM10 |
| Ep3071944b1 (gb, fr, de602014059002.0) US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364A |
기기보정개선또는관련 | NanoSight NS300 |
MicroCal ITC
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| CN101855541B EP2208057A1 JP05542678B2 US8449175C1 US8827549C1 |
등온적정미세열량측정계장치및사용방법 | MicroCal ITC시리즈 |
| CN102232184B Ep2352993b1 (ch + li, gb, fr, de602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 Ep3144666b1 (ch + li, gb, fr, de602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776A1 |
자동등온적정미세열랑측정계장치및사용방법 | MicroCal ITC시리즈 |
MicroCal DSC
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8635045B2 CN103221808B EP2646811A1 IN336472 JP5925798B2 |
열량측정데이터에서자동피크찾기방법 | MicroCal DSC시리즈 |
OMNISEC
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US9759644B2 US10551291B2 |
평형방식모세관브릿지점도계 | OMNISEC |
| US9612183B2 Ep2619543b1 (gb, fr, de602011011174.4) JP05916734B2 CN103168223B IN341558 |
모듈식모세관브릿지점도계 | OMNISEC |
직립형XRF
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1) |
비드용광로 | Zetium Axios快 Epsilon5 |
| US6823043B2 | 재료매개변수결정 |
Zetium * Axios快* 2830 zt(웨이퍼분석기)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US7949092B2 |
X선분석을수행하는장치및방법 |
Zetium * Axios快* 2830 zt(웨이퍼분석기)* Epsilon5 * SEMYOS |
| US6574305B2 |
샘플상태검사장치및방법 | Zetium * Axios快* 2830 zt(웨이퍼분석기)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| JP4111336B2 | X선으로샘플검사를위한장치 |
Epsilon5 |
| US7042978B2 | 재료샘플의검사 | Zetium * Axios快* Epsilon5 SEMYOS * |
| JP5782451B2 Ep2510397b1 (gb, fr, nl, de602010021859.7) |
远紫外线파장범위에서응용을위한측면패턴을가진다층구조제조방법과이방법에따라제조된bf및图像放大구조 | Zetium * Axios快 2830 zt(웨이퍼분석기)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US9658352B2 CN104833557B JP656263B2 JP6804594B2 |
준제조방법 | Zetium Axios快 |
| Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6) JP6360151B2 |
가압에의한샘플펠릿전처리 | Zetium Axios快 |
| US10107551B2 Ep2966039b1 (gb, fr, nl, de602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B |
플럭스및백금도가니를사용한xrf용샘플전처리 | Zetium Axios快 |
| US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
정량적x선분석-매트릭스두께보정 | Zetium * Axios快 |
| US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
정량적x선분석-다중광학경로장비 | Zetium * Axios快 |
| US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B Ep3064932b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602016024126.9) |
정량적x선분석-비율보정 | Zetium * Axios快 |
| JP3936912B2 | 액체의x선분석을위한플로팅커버가있는샘플용기 | Zetium Axios快 2830 zt(웨이퍼분석기) Epsilon5 SEMYOS |
| US9239305B2 | 샘플 홀더 | Zetium * Axios快* Epsilon5 |
| US7978820B2 |
X선회절및형광 | Zetium Axios快* 2830 zt(웨이퍼분석기)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US7720192B2 JP5574575B2 CN101311708B |
X선형광장치 | Zetium * Axios快* 2830 zt(웨이퍼분석기)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US7194067B2 |
X선광학시스템 | Zetium Axios快* 2830 zt(웨이퍼분석기)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1) |
금속와이어음극이있는x선소스 | Zetium Axios快 2830 zt(웨이퍼분석기) Epsilon5 SEMYOS |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de6020150124221.9) |
X선관음극배열 |
Zetium Axios快 2830 zt(웨이퍼분석기) Epsilon5 SEMYOS |
| US10281414B2 Ep3330701b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602017006751.2) EP3480587A1 US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267A |
X선측정을위한원뿔형콜리메이터 | Zetium * |
| *·선택사항/제품의제품의.준아님 | ||
台式光谱仪
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1) |
비드용광로 | 1제품군 3X분광계 Epsilon 4空气质量版 |
| US6823043B2 | 재료매개변수결정 |
1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| US7949092B2 |
X선분석을수행하는장치및방법 |
1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| US6574305B2 |
샘플상태검사장치및방법 | 1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| US7042978B2 | 재료샘플의검사 | 1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| US9658352B2 CN104833557B JP6562635B2 JP6804594B2 |
준제조방법 | 1제품군 3X분광계 Epsilon 4空气质量版 |
| Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6) JP6360151B2 |
가압에의한샘플펠릿전처리 | 1제품군 3X분광계 Epsilon 4空气质量版 |
| US10107551B2 JP6559486B2 CN105258987B Ep2966039b1 (gb, fr, nl, de602014024004.2) |
플럭스및백금도가니를사용한xrf용샘플전처리 | 1제품군 3X분광계 Epsilon 4空气质量版 |
| US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
정량적x선분석-매트릭스두께보정 | 1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de602016056347.9) |
정량적x선분석-다중광학경로장비 | 1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B Ep3064932b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602016024126.9) |
정량적x선분석-비율보정 | 1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| JP3936912B2 | 액체의x선분석을위한플로팅커버가있는샘플용기 | 1제품군 3X분광계 Epsilon 4空气质量版 |
| US9239305B2 | 샘플 홀더 | 1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| US9547094B2 CN104849295B Ep2908127b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602014011398.2) JP6526983B2 |
X선분석장치 |
1제품군 3X분광계 Epsilon 4空气质量版 |
| US7978820B2 |
X선회절및형광 | 1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| US7194067B2 |
X선광학시스템 | 1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1) |
금속와이어음극이있는x선소스 | 1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de6020150124221.9) |
X선관음극배열 |
1제품군* 3X분광계* Epsilon 4空气质量版* |
| *선택사항/제품의@준아님 | ||
地面站立XRD
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US6815684B2 |
고체상위치감지x선검출기가있는분석x선장비 | 苍天 X 'Pert³粉 X'Pert³MRD (XL) CubiX³제품군 |
| US6823043B2 | 재료매개변수결정 |
苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| US6574305B2 |
샘플상태검사장치및방법 | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| US9506880B2 CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 |
회절이미징 | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| US7116754B2 | 회절분석기 | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| US8488740B2 JP6009156B2 CN102565108B Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3) |
회절분석기 |
苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B Ep2088451b1 (gb, fr, nl, de602008041760.3) |
이미징검출기 | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| Ep2088625b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602009040563.2) | 이미징검출기 | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| US9110003B2 CN103383363B Ep2634566b1 (gb, fr, nl, de602012058202.2) JP6198406B2 |
미세회절 |
苍天 X 'Pert³粉 X'Pert³MRD (XL) CubiX³제품군 |
| US6704390B2 |
다층미러와exit콜리메이터가함께제공되는X선분석장치 | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| US9640292B2 CN104777179B Ep2896960b1 (gb, fr, nl, de602014012155.1) JP6564683B2 |
X선장치 |
苍天 X 'Pert³粉 CubiX³제품군 |
| US7756248B2 JP5145263B2 CN101545873B Ep2090883b1 (gb, fr, nl, de602008002143d1) |
포장내x선검출 |
苍天 X 'Pert³粉 X'Pert³MRD (XL) |
| US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B Ep2365319b1 (gb, fr, nl, de602011055847.1) |
X선회절및컴퓨터단층촬 | 苍天 X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B Ep1947448b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602007031351.1) |
X선산란용X선회절장비 |
X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* |
| Ep1287342b1 (gb, fr, de60147121.0) | X선회절분석기 | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| US7477724B2 Ep1703276b1 (gb, fr, nl, de602005033962.0) |
X선장비 | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군 |
| US7194067B2 |
X선광학시스템 | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B Ep2477191b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602011035906.1) |
X선셔터배열 | 苍天 X 'Pert³粉 X'Pert³MRD (XL) CubiX³제품군 |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b1 (gb, fr, nl, de6020150124221.9) |
X선관음극배열 |
苍天* X 'Pert³粉* X'Pert MRD (XL)* CubiX³제품군* |
| EP3553508A2 US20190317030A1 JP2019184609A CN110389142A |
X선분석장치및방법 | 苍天* |
| US10359376B2 EP3273229A1 JP6701133B2 CN107643308A |
X선분석용샘플홀더 | 苍天* |
| *선택사항/제품의@준아님 | ||
QualitySpec 7000
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US8164747B2 CA2667650C Ep2092296b1 (ch + li, nl, se, dk, de602007045593.6) |
광학분광측정을위한장치，시스템및방법 | QualitySpec 7000 |
TerraSpec晕
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 단색광분광기및다이오드어레이분광계기기스캔장치，시스템및방법 | TerraSpec晕 |
QualitySpec长途跋涉
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 단색광분광기및다이오드어레이분광계기기스캔장치，시스템및방법 | QualitySpec长途跋涉 |
台式XRD
| 특허 번호 | 특허 제목 | 기기 |
|---|---|---|
| US6815684B2 |
고체상위치감지x선검출기가있는분석x선장비 | Aeris * |
| US6823043B2 | 재료매개변수결정 |
Aeris * |
| US9506880B2 CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 |
회절이미징 | Aeris * |
| US7116754B2 | 회절분석기 | Aeris * |
| US8488740B2 JP6009156B2 CN102565108B Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3) |
회절분석기 | Aeris * |
| US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B Ep2088451b1 (gb, fr, nl, de602008041760.3) |
이미징검출기 | Aeris * |
| Ep2088625b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602009040563.2) | 이미징검출기 | Aeris * |
| US6704390B2 |
다층미러와exit콜리메이터가함께제공되는X선분석장치 | Aeris * |
| US9640292B2 JP6564572B2 CN104777179B Ep2896960b1 (gb, fr, nl, de602014012155.1) |
X선장치 | Aeris |
| US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B Ep2365319b1 (gb, fr, nl, de602011055847.1) |
X선회절및컴퓨터단층촬 | Aeris * |
| US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B Ep1947448b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602007031351.1) |
X선산란용X선회절장비 |
Aeris * |
| Ep1287342b1 (gb, fr, de60147121.0) | X선회절분석기 | Aeris * |
| US7477724B2 Ep1703276b1 (gb, fr, nl, de602005033962.0) |
X선장비 | Aeris * |
| US7194067B2 |
X선광학시스템 | Aeris * |
| US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B Ep2477191b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602011035906.1) |
X선셔터배열 | Aeris |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b1 (gb, fr, nl, de6020150124221.9) |
X선관음극배열 |
Aeris * |
*선택사항/제품의@준아님 |
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