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1 der ®
AERIS ®
AERIS PANALYTICAL ®
(ASD Inc)标志 ®
积累 ®
放大分析 ®
AMPLIFY ANALYTICS (+ Logo) ®
阿基米德 ®
AXIOS ®
CHI-BLUE ®
Claisse ®
Claisse (+ Logo) ®
(CLS标志) ®
概念生命科学 ®
概念生命科学(+ Logo) ®
CREOPTIX ®
根据 ®
根据3. ®
dCore
EAGON ®
Eagon 2 ®
容易一枝 ®
苍天 ®
ε ®
εX-FLOW ®
专家一枝 ®
容易一枝 ®
FieldSpec ®
FIPA
萤石'X ®
GALIPIX 3 d ®
双子座
goLab
手持2
HIGHSCORE ®
Hydrosight
iCore
Indico职业
Insitec ®
(Insitec标志) ®
(Insitec Measurement Systems标志) ®
ISys ®
LabSizer
LabSpec ®
LeNeo ®
LeDoser
LeDoser-12
M3的朋友
M4
MADLS ®
莫尔文 ®
(三角形山丘标志+莫尔文仪器) ®
汉字中的墨文 ®
莫尔文仪器 ®
莫尔文乐器的汉字 ®
莫尔文链接
(莫尔文加山标志) ®
bob欧宝体育 ®
bob欧宝体育莫尔文·潘的汉字分析 ®
bob欧宝体育莫尔文,片假名 ®
bob欧宝体育莫尔文·潘析的韩文 ®
bob欧宝体育MALVERN PANALYTICAL (+ X Logo) ®
Mastersizer ®
Mastersizer 2000
MC(风格) ®
耐多药 ®
Microcal ®
Morphologi ®
(三角山标志) ®
Nanosight ®
傲慢的人
油痕 ®
OMNIAN ®
OMNISEC ®
OMNITRUST ®
PANALYTICAL ®
PANALYTICAL LOGO(图片) ®
哑剧 ®
PEAQ-ITC ®
PIXCEL ®
PIXCEL 1 d ®
PIXCEL 3 d ®
PIXIRAD ®
QualitySpec ®
Spraytec
风场 ®
SST-MAX ®
超锐管 ®
STRATOS ®
超级问 ®
SyNIRgi
TerraSpec ®
TheOx®先进 ®
Ultrasizer
金星MINILAB ®
ViewSpec
viscogel
Viscotek ®
Viscotek SEC-MALS
WAVECHIP ®
我们以小取胜
(X标志) ®
X 'CELERATOR ®
爱视宝3. ®
Zetasizer ®
ZETIUM ®
z螺旋 ®

布莱卫

bob欧宝体育马尔文Panalytical处置d'une gamme de产品独特,à la pointe du marché, protégés les demandes de brevet et les brevet suivants。

Mastersizer

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
Ep1167946b1 (gb, fr, de60135521d1) Système de passeur d'échantillons 水电MV,水电低压,水电EV
GB2364774B
US6800251B2
Système de passeur d'échantillons à利用者不穿衣服caractérisation粒子 水压MV,水压LV
GB2494735B 服装的措施德拉分布granulométrique par扩散德拉lumière MS3000, MS3000E
CN104067105B
Ep2756283b1 (gb, fr, de602012015707.0)
US9869625B2
JP6154812B
服装等méthode de测度de la分布granulométrique par扩散de la lumière MS3000, MS3000E
US10837889B2
GB2494734B
服装等méthode de测度de la分布granulométrique par扩散de la lumière MS3000, MS3000E

Zetasizer

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US7217350B2
Mobilité et effets découlant de la charge de surface Zetasizer先进范围,纳米ZS,纳米Z,纳米ZS90,纳米ZSP,螺旋
EP2467701A1
CN102575984B
US9279765B2
JP5669843B2
US10317339B2
US20200096443A1
Microrhéologie des流体复合物basée sur la扩散动力学de la lumière, avec détection améliorée du扩散模式独一无二 Gamme Zetasizer Advance, Nano ZSP, Helix
CN103608671B
CN105891304B
Ep2721399b1 (be, ch + li, dk, fr, gb, nl, de602012031338.2, it502017000050268)
JP06023184B2
US9829525B2
US10274528B2
US20200072888A1
测量表面电荷 附座的小细胞de匾泽塔
US8702942B2
CN103339500B
Ep2652490b1 (gb, fr, de602011046775.1)
JP06006231B2
JP06453285B2
US10648945B2
Électrophorèse多普勒激光实用une barrière de扩散 Zetasizer先进范围,纳米ZS,纳米S,纳米ZS90, S90,纳米ZSP
Ep2742337b1 (gb, fr, de602012018122.2)
US9816922B2
Caractérisation en模式双des粒子 Zetasizer螺旋
US10197485B2
US10520412B2
US10845287B2
EP3353527A1
JP2018535429A
CN108291861A
Caractérisation粒子 Gamme Zetasizer Advance
US10119910B2 仪器caractérisation des粒子 Zetasizer Advance: Ultra et Pro
US8675197B2
JP6059872B2
EP2404157B1
Caractérisation粒子 配件Zetasizer先进
EP3521806A1
US20210063295A1
CN111684261A
WO2019154882A1
扩散动力学德拉lumière多角度 Zetasizer先进:超

Insitec

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US7418881B2
EP1592957B1 (GB)
Système et méthode de稀释 Insitec(某些产品)
US7871194B2
EP1869429A2
Système et méthode de稀释 Insitec(某些产品)
EP2640499B1 (GB) 分散剂en ligne et méthode de mélange de poudre Insitec en voie sèche

Morphologi

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
Ep2106536b1 (gb, fr, de602008039489.1)
US8111395B2
US8564774B2
Étude spectrométrique de l'hétérogénéité Morphologi G3-ID
GB2522735B
JP6560849B2
Méthode et appareil pour la dispersion de poudre Morphologi G3- id, Morphologi G3

Viscosizer

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US2018067901A1
JP2018511129A
EP3274864A1
CN107430593A
Paramétrage de modèle多重组合 Viscosizer TD

L 'Hydro景象

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US8456633B2 监控过程spectrométrique L 'Hydro景象
CN104704343B
EP2864760A2
US10509976B2
Caractérisation d'échantillons de fluides hétérogènes L 'Hydro景象

NanoSight

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US7751053B2
JP04002577B2
Ep1499871b1 (fr, de60335872.1)
GB2388189B
US7399600B2
Détection粒子分析光学 NanoSight NS300
NanoSight NS500
NanoSight LM10
Ep3071944b1 (gb, fr, de602014059002.0)
US9909970B2
JP6505101B2
CN105765364A
Améliorations de ou en rapport avec l'étalonnage des仪器 NanoSight NS300

ITC MicroCal

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
CN101855541B
EP2208057A1
JP05542678B2
US8449175C1
US8827549C1
服装等méthode d’utilisation du microcalorimètre滴定等温线 游戏ITC MicroCal
CN102232184B
Ep2352993b1 (ch + li, gb, fr, de602009044685.1)
JP5476394B2
US9103782B2
US9404876B2
US10036715B2
US10254239B2
Ep3144666b1 (ch + li, gb, fr, de602009059932.1)
US20200025698A1
EP3647776A1
服装等méthode d'利用杜microcalorimètre等温线滴定自动 游戏ITC MicroCal

Les systèmes MicroCal DSC

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US8635045B2
CN103221808B
EP2646811A1
IN336472
JP5925798B2
Méthode法国自动图像研究données calorimétriques Gamme DSC MicroCal

OMNISEC

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US9759644B2
US10551291B2
Viscosimètre à毛细管en pont équilibré OMNISEC
US9612183B2
Ep2619543b1 (gb, fr, de602011011174.4)
JP05916734B2
CN103168223B
IN341558
Viscosimètre modulaire à capillaire en pont OMNISEC

XRF posé au sol

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1)
四个à perles Zetium
Axios快
Epsilon5
US6823043B2 Détermination des paramètres du matériau
Zetium *
Axios快*
2830zt(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
US7949092B2
Dispositif et méthode d' analyze par rayons X
Zetium *
Axios快*
2830zt(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS
US6574305B2
Dispositif et méthode d'inspection de l'état d'un échantillon Zetium *
Axios快*
2830zt(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
JP4111336B2 dipositif de test de l'échantillon à l'aide de rayons X
Epsilon5

US7042978B2 Examen des échantillons de matériaux Zetium *
Axios快*
Epsilon5
SEMYOS *
JP5782451B2
Ep2510397b1 (gb, fr, nl, de602010021859.7)
Procédé制造结构多槽avec un schéma latéral倾注应用程序la游戏de longueurs d'onde xuv, et des结构bf et Imag fabriquées selon cette méthode Zetium *
Axios快
2830zt(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
US9658352B2
CN104833557B
JP656263B2
JP6804594B2
Méthode de conception d'un étalon Zetium
Axios快
Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6)
JP6360151B2
Préparation de granulés d'échantillon par pressage Zetium
Axios快
US10107551B2
Ep2966039b1 (gb, fr, nl, de602014024004.2)
JP6559486B2
CN105258987B
Préparation d'échantillons pour XRF à l'aide d'un fondant et d'un creuset en platine Zetium
Axios快
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de)
分析定量平价X校正的l'épaisseur德拉矩阵 Zetium *
Axios快
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B
Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de)
分析定量平价X射线仪à trajet光学倍数 Zetium *
Axios快
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B
Ep3064932b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602016024126.9)
分析定量的X射线校正 Zetium *
Axios快
JP3936912B2 conteur d'échantillons avec couvercle flottant pour l'analyse des liquits par rayons X Zetium
Axios快
2830zt(晶圆分析器)
Epsilon5
SEMYOS
US9239305B2 Porte-echantillon Zetium *
Axios快*
Epsilon5
US7978820B2
射线衍射X等荧光 Zetium
Axios快*
2830zt(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
US7720192B2
JP5574575B2
CN101311708B
荧光服饰X Zetium *
Axios快*
2830zt(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
US7194067B2
Système optique à人造丝X Zetium
Axios快*
2830zt(晶圆分析仪)*
Epsilon5 *
SEMYOS *
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1)
源人造纤维X avec阴极à fil métallique Zetium
Axios快
2830zt(晶圆分析器)
Epsilon5
SEMYOS
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de602015012421.9)
处置阳极管à人造丝X
Zetium
Axios快
2830zt(晶圆分析器)
Epsilon5
SEMYOS
US10281414B2
Ep3330701b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602017006751.2)
EP3480587A1
US10393683B2
JP6767961B2
CN108132267A
圆锥形准直仪测量人造纤维X Zetium *
* en可选/非标准丹勒产品

XRF de paillasse

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US8210000B2
JP5554163B2
CN101941789B
Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1)
四个à perles 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air
US6823043B2 Détermination des paramètres du matériau
1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
US7949092B2
Dispositif et méthode d' analyze par rayons X
1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
US6574305B2
Dispositif et méthode d'inspection de l'état d'un échantillon 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
US7042978B2 Examen des échantillons de matériaux 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
US9658352B2
CN104833557B
JP6562635B2
JP6804594B2
Méthode de conception d'un étalon 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air
Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6)
JP6360151B2
Préparation de granulés d'échantillon par pressage 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air
US10107551B2
JP6559486B2
CN105258987B
Ep2966039b1 (gb, fr, nl, de602014024004.2)
Préparation d'échantillons pour XRF à l'aide d'un fondant et d'un creuset en platine 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air
US9784699B2
JP6861469B2
CN105937890B
Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de)
分析定量平价X校正的l'épaisseur德拉矩阵 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
US9739730B2
JP6706932B2
CN105938113B
Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de602016056347.9)
分析定量平价X射线仪à trajet光学倍数 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
US9851313B2
JP6762734B2
CN105938112B
Ep3064932b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602016024126.9)
分析定量的X射线校正 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
JP3936912B2 conteur d'échantillons avec couvercle flottant pour l'analyse des liquits par rayons X 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air
US9239305B2 Porte-echantillon 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
US9547094B2
CN104849295B
Ep2908127b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602014011398.2)
JP6526983B2
服装分析X人造丝
1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air
US7978820B2
射线衍射X等荧光 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
US7194067B2
Système optique à人造丝X 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
US8223923B2
JP5266310B2
CN101720491B
Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1)
源人造纤维X avec阴极à fil métallique 1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de602015012421.9)
处置阳极管à人造丝X
1
Spectromètres 3X
ε 4 Édition qualité de l'air*
*可选/非标准丹勒产品

XRD posé金溶胶

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US6815684B2
服装d'analyse par rayons X analytique fourni avec un détecteur de rayons X à半导体sensible à la position 苍天
X 'Pert³粉
X'Pert³MRD (XL)
全音域根据³
US6823043B2 Détermination des paramètres du matériau
苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
US6574305B2
Dispositif et méthode d'inspection de l'état d'un échantillon 苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
像射衍射 苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
US7116754B2 Diffractometre 苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3)
Diffractometre
苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
Ep2088451b1 (gb, fr, nl, de602008041760.3)
Detecteur d 'imagerie 苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
Ep2088625b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602009040563.2) Detecteur d 'imagerie 苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
US9110003B2
CN103383363B
Ep2634566b1 (gb, fr, nl, de602012058202.2)
JP6198406B2
微衍射
苍天
X 'Pert³粉
X'Pert³MRD (XL)
全音域根据³
US6704390B2
服装分析用人造丝X四反射多面体和非准直机 苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
US9640292B2
CN104777179B
Ep2896960b1 (gb, fr, nl, de602014012155.1)
JP6564683B2
服装à人造丝X
苍天
X 'Pert³粉
海滨根据³
US7756248B2
JP5145263B2
CN101545873B
Ep2090883b1 (gb, fr, nl, de602008002143d1)
Détecteur人造纤维X丹斯装饰
苍天
X 'Pert³粉
X'Pert³MRD (XL)
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
Ep2365319b1 (gb, fr, nl, de602011055847.1)
射线衍射X et tomodensitométrie 苍天
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
Ep1947448b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602007031351.1)
Équipement衍射人造纤维X倒la扩散人造纤维X
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
Ep1287342b1 (gb, fr, de60147121.0) Diffractomètres à人造纤维X 苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
US7477724B2
Ep1703276b1 (gb, fr, nl, de602005033962.0)
仪器à人造丝X 苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
海滨根据³
US7194067B2
Système optique à人造丝X 苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
Ep2477191b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602011035906.1)
处置l'闭孔à人造纤维X 苍天
X 'Pert³粉
X'Pert³MRD (XL)
全音域根据³
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
Ep3043371b1 (gb, fr, nl, de602015012421.9)
处置阳极管à人造丝X
苍天*
X 'Pert³粉*
X'Pert³MRD (XL)*
全音域根据³*
EP3553508A2
US20190317030A1
JP2019184609A
CN110389142A
Appareil et méthode d'analyse par rayons X 苍天*
US10359376B2
EP3273229A1
JP6701133B2
CN107643308A
Porte-échantillon pour analyze par rayons X 苍天*
*可选/非标准丹勒产品

QualitySpec 7000

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US8164747B2
CA2667650C
Ep2092296b1 (ch + li, nl, se, dk, de602007045593.6)
服装,système et méthode de mesure spectroscopque optique QualitySpec 7000

TerraSpec晕

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US9207118B2 服装,système et méthode pour la lecture de l'instrumentation du spectromètre单色仪et à二极管发夹 TerraSpec晕

QualitySpec长途跋涉

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US9207118B2 服装,système et méthode pour la lecture de l'instrumentation du spectromètre单色仪et à二极管发夹 QualitySpec长途跋涉

paillasse的XRD

Numéros德布莱卫 Titre du brevet 仪器
US6815684B2
服装d'analyse par rayons X analytique fourni avec un détecteur de rayons X à半导体sensible à la position Aeris *
US6823043B2 Détermination des paramètres du matériau
Aeris *
US9506880B2
CN104251870B
EP2818851A1
JP6403452B2
像射衍射 Aeris *
US7116754B2 Diffractometre Aeris *
US8488740B2
JP6009156B2
CN102565108B
Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3)
Diffractometre Aeris *
US7858945B2
JP5254066B2
CN101521246B
Ep2088451b1 (gb, fr, nl, de602008041760.3)
Detecteur d 'imagerie Aeris *
Ep2088625b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602009040563.2) Detecteur d 'imagerie Aeris *
US6704390B2
服装分析用人造丝X四反射多面体和非准直机 Aeris *
US9640292B2
JP6564572B2
CN104777179B
Ep2896960b1 (gb, fr, nl, de602014012155.1)
服装à人造丝X Aeris
US8477904B2
JP5752434B2
CN102253065B
Ep2365319b1 (gb, fr, nl, de602011055847.1)
射线衍射X et tomodensitométrie Aeris *
US7542547B2
JP5280057B2
CN101256160B
Ep1947448b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602007031351.1)
Équipement衍射人造纤维X倒la扩散人造纤维X
Aeris *
Ep1287342b1 (gb, fr, de60147121.0) Diffractomètres à人造纤维X Aeris *
US7477724B2
Ep1703276b1 (gb, fr, nl, de602005033962.0)
仪器à人造丝X Aeris *
US7194067B2
Système optique à人造丝X Aeris *
US8437451B2
JP5999901B2
CN102610290B
Ep2477191b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602011035906.1)
处置l'闭孔à人造纤维X Aeris
US9911569B2
JP2016131150A
CN105810541B
Ep3043371b1 (gb, fr, nl, de602015012421.9)
处置阳极管à人造丝X
Aeris *

*可选/非标准丹勒产品

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