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品牌deposee
品牌commerciale | Statut |
---|---|
1 der | ® |
AERIS | ® |
AERIS PANALYTICAL | ® |
(ASD Inc)标志 | ® |
积累 | ® |
放大分析 | ® |
AMPLIFY ANALYTICS (+ Logo) | ® |
阿基米德 | ® |
AXIOS | ® |
CHI-BLUE | ® |
Claisse | ® |
Claisse (+ Logo) | ® |
(CLS标志) | ® |
概念生命科学 | ® |
概念生命科学(+ Logo) | ® |
CREOPTIX | ® |
根据 | ® |
根据3. | ® |
dCore | ™ |
EAGON | ® |
Eagon 2 | ® |
容易一枝 | ® |
苍天 | ® |
ε | ® |
εX-FLOW | ® |
专家一枝 | ® |
容易一枝 | ® |
FieldSpec | ® |
FIPA | ™ |
萤石'X | ® |
GALIPIX 3 d | ® |
双子座 | ™ |
goLab | ™ |
手持2 | ™ |
HIGHSCORE | ® |
Hydrosight | ™ |
iCore | ™ |
Indico职业 | ™ |
Insitec | ® |
(Insitec标志) | ® |
(Insitec Measurement Systems标志) | ® |
ISys | ® |
LabSizer | ™ |
LabSpec | ® |
LeNeo | ® |
LeDoser | ™ |
LeDoser-12 | ™ |
M3的朋友 | ™ |
M4 | ™ |
MADLS | ® |
莫尔文 | ® |
(三角形山丘标志+莫尔文仪器) | ® |
汉字中的墨文 | ® |
莫尔文仪器 | ® |
莫尔文乐器的汉字 | ® |
莫尔文链接 | ™ |
(莫尔文加山标志) | ® |
bob欧宝体育 | ® |
bob欧宝体育莫尔文·潘的汉字分析 | ® |
bob欧宝体育莫尔文,片假名 | ® |
bob欧宝体育莫尔文·潘析的韩文 | ® |
bob欧宝体育MALVERN PANALYTICAL (+ X Logo) | ® |
Mastersizer | ® |
Mastersizer 2000 | ™ |
MC(风格) | ® |
耐多药 | ® |
Microcal | ® |
Morphologi | ® |
(三角山标志) | ® |
Nanosight | ® |
傲慢的人 | ™ |
油痕 | ® |
OMNIAN | ® |
OMNISEC | ® |
OMNITRUST | ® |
PANALYTICAL | ® |
PANALYTICAL LOGO(图片) | ® |
哑剧 | ® |
PEAQ-ITC | ® |
PIXCEL | ® |
PIXCEL 1 d | ® |
PIXCEL 3 d | ® |
PIXIRAD | ® |
QualitySpec | ® |
Spraytec | ™ |
风场 | ® |
SST-MAX | ® |
超锐管 | ® |
STRATOS | ® |
超级问 | ® |
SyNIRgi | ™ |
TerraSpec | ® |
TheOx®先进 | ® |
Ultrasizer | ™ |
金星MINILAB | ® |
ViewSpec | ™ |
viscogel | ™ |
Viscotek | ® |
Viscotek SEC-MALS | ™ |
WAVECHIP | ® |
我们以小取胜 | ™ |
(X标志) | ® |
X 'CELERATOR | ® |
爱视宝3. | ® |
Zetasizer | ® |
ZETIUM | ® |
z螺旋 | ® |
布莱卫
bob欧宝体育马尔文Panalytical处置d'une gamme de产品独特,à la pointe du marché, protégés les demandes de brevet et les brevet suivants。
Mastersizer
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
Ep1167946b1 (gb, fr, de60135521d1) | Système de passeur d'échantillons | 水电MV,水电低压,水电EV |
GB2364774B US6800251B2 |
Système de passeur d'échantillons à利用者不穿衣服caractérisation粒子 | 水压MV,水压LV |
GB2494735B | 服装的措施德拉分布granulométrique par扩散德拉lumière | MS3000, MS3000E |
CN104067105B Ep2756283b1 (gb, fr, de602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B |
服装等méthode de测度de la分布granulométrique par扩散de la lumière | MS3000, MS3000E |
US10837889B2 GB2494734B |
服装等méthode de测度de la分布granulométrique par扩散de la lumière | MS3000, MS3000E |
Zetasizer
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US7217350B2 |
Mobilité et effets découlant de la charge de surface | Zetasizer先进范围,纳米ZS,纳米Z,纳米ZS90,纳米ZSP,螺旋 |
EP2467701A1 CN102575984B US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US20200096443A1 |
Microrhéologie des流体复合物basée sur la扩散动力学de la lumière, avec détection améliorée du扩散模式独一无二 | Gamme Zetasizer Advance, Nano ZSP, Helix |
CN103608671B CN105891304B Ep2721399b1 (be, ch + li, dk, fr, gb, nl, de602012031338.2, it502017000050268) JP06023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US20200072888A1 |
测量表面电荷 | 附座的小细胞de匾泽塔 |
US8702942B2 CN103339500B Ep2652490b1 (gb, fr, de602011046775.1) JP06006231B2 JP06453285B2 US10648945B2 |
Électrophorèse多普勒激光实用une barrière de扩散 | Zetasizer先进范围,纳米ZS,纳米S,纳米ZS90, S90,纳米ZSP |
Ep2742337b1 (gb, fr, de602012018122.2) US9816922B2 |
Caractérisation en模式双des粒子 | Zetasizer螺旋 |
US10197485B2 US10520412B2 US10845287B2 EP3353527A1 JP2018535429A CN108291861A |
Caractérisation粒子 | Gamme Zetasizer Advance |
US10119910B2 | 仪器caractérisation des粒子 | Zetasizer Advance: Ultra et Pro |
US8675197B2 JP6059872B2 EP2404157B1 |
Caractérisation粒子 | 配件Zetasizer先进 |
EP3521806A1 US20210063295A1 CN111684261A WO2019154882A1 |
扩散动力学德拉lumière多角度 | Zetasizer先进:超 |
Insitec
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US7418881B2 EP1592957B1 (GB) |
Système et méthode de稀释 | Insitec(某些产品) |
US7871194B2 EP1869429A2 |
Système et méthode de稀释 | Insitec(某些产品) |
EP2640499B1 (GB) | 分散剂en ligne et méthode de mélange de poudre | Insitec en voie sèche |
Morphologi
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
Ep2106536b1 (gb, fr, de602008039489.1) US8111395B2 US8564774B2 |
Étude spectrométrique de l'hétérogénéité | Morphologi G3-ID |
GB2522735B JP6560849B2 |
Méthode et appareil pour la dispersion de poudre | Morphologi G3- id, Morphologi G3 |
Viscosizer
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US2018067901A1 JP2018511129A EP3274864A1 CN107430593A |
Paramétrage de modèle多重组合 | Viscosizer TD |
L 'Hydro景象
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US8456633B2 | 监控过程spectrométrique | L 'Hydro景象 |
CN104704343B EP2864760A2 US10509976B2 |
Caractérisation d'échantillons de fluides hétérogènes | L 'Hydro景象 |
NanoSight
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US7751053B2 JP04002577B2 Ep1499871b1 (fr, de60335872.1) GB2388189B US7399600B2 |
Détection粒子分析光学 | NanoSight NS300 NanoSight NS500 NanoSight LM10 |
Ep3071944b1 (gb, fr, de602014059002.0) US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364A |
Améliorations de ou en rapport avec l'étalonnage des仪器 | NanoSight NS300 |
ITC MicroCal
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
CN101855541B EP2208057A1 JP05542678B2 US8449175C1 US8827549C1 |
服装等méthode d’utilisation du microcalorimètre滴定等温线 | 游戏ITC MicroCal |
CN102232184B Ep2352993b1 (ch + li, gb, fr, de602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 Ep3144666b1 (ch + li, gb, fr, de602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776A1 |
服装等méthode d'利用杜microcalorimètre等温线滴定自动 | 游戏ITC MicroCal |
Les systèmes MicroCal DSC
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US8635045B2 CN103221808B EP2646811A1 IN336472 JP5925798B2 |
Méthode法国自动图像研究données calorimétriques | Gamme DSC MicroCal |
OMNISEC
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US9759644B2 US10551291B2 |
Viscosimètre à毛细管en pont équilibré | OMNISEC |
US9612183B2 Ep2619543b1 (gb, fr, de602011011174.4) JP05916734B2 CN103168223B IN341558 |
Viscosimètre modulaire à capillaire en pont | OMNISEC |
XRF posé au sol
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1) |
四个à perles | Zetium Axios快 Epsilon5 |
US6823043B2 | Détermination des paramètres du matériau |
Zetium * Axios快* 2830zt(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
US7949092B2 |
Dispositif et méthode d' analyze par rayons X |
Zetium * Axios快* 2830zt(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS |
US6574305B2 |
Dispositif et méthode d'inspection de l'état d'un échantillon | Zetium * Axios快* 2830zt(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
JP4111336B2 | dipositif de test de l'échantillon à l'aide de rayons X |
Epsilon5 |
US7042978B2 | Examen des échantillons de matériaux | Zetium * Axios快* Epsilon5 SEMYOS * |
JP5782451B2 Ep2510397b1 (gb, fr, nl, de602010021859.7) |
Procédé制造结构多槽avec un schéma latéral倾注应用程序la游戏de longueurs d'onde xuv, et des结构bf et Imag fabriquées selon cette méthode | Zetium * Axios快 2830zt(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
US9658352B2 CN104833557B JP656263B2 JP6804594B2 |
Méthode de conception d'un étalon | Zetium Axios快 |
Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6) JP6360151B2 |
Préparation de granulés d'échantillon par pressage | Zetium Axios快 |
US10107551B2 Ep2966039b1 (gb, fr, nl, de602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B |
Préparation d'échantillons pour XRF à l'aide d'un fondant et d'un creuset en platine | Zetium Axios快 |
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
分析定量平价X校正的l'épaisseur德拉矩阵 | Zetium * Axios快 |
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
分析定量平价X射线仪à trajet光学倍数 | Zetium * Axios快 |
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B Ep3064932b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602016024126.9) |
分析定量的X射线校正 | Zetium * Axios快 |
JP3936912B2 | conteur d'échantillons avec couvercle flottant pour l'analyse des liquits par rayons X | Zetium Axios快 2830zt(晶圆分析器) Epsilon5 SEMYOS |
US9239305B2 | Porte-echantillon | Zetium * Axios快* Epsilon5 |
US7978820B2 |
射线衍射X等荧光 | Zetium Axios快* 2830zt(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
US7720192B2 JP5574575B2 CN101311708B |
荧光服饰X | Zetium * Axios快* 2830zt(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
US7194067B2 |
Système optique à人造丝X | Zetium Axios快* 2830zt(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1) |
源人造纤维X avec阴极à fil métallique | Zetium Axios快 2830zt(晶圆分析器) Epsilon5 SEMYOS |
US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de602015012421.9) |
处置阳极管à人造丝X |
Zetium Axios快 2830zt(晶圆分析器) Epsilon5 SEMYOS |
US10281414B2 Ep3330701b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602017006751.2) EP3480587A1 US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267A |
圆锥形准直仪测量人造纤维X | Zetium * |
* en可选/非标准丹勒产品 |
XRF de paillasse
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1) |
四个à perles | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air |
US6823043B2 | Détermination des paramètres du matériau |
1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
US7949092B2 |
Dispositif et méthode d' analyze par rayons X |
1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
US6574305B2 |
Dispositif et méthode d'inspection de l'état d'un échantillon | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
US7042978B2 | Examen des échantillons de matériaux | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
US9658352B2 CN104833557B JP6562635B2 JP6804594B2 |
Méthode de conception d'un étalon | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air |
Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6) JP6360151B2 |
Préparation de granulés d'échantillon par pressage | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air |
US10107551B2 JP6559486B2 CN105258987B Ep2966039b1 (gb, fr, nl, de602014024004.2) |
Préparation d'échantillons pour XRF à l'aide d'un fondant et d'un creuset en platine | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air |
US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
分析定量平价X校正的l'épaisseur德拉矩阵 | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de602016056347.9) |
分析定量平价X射线仪à trajet光学倍数 | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B Ep3064932b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602016024126.9) |
分析定量的X射线校正 | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
JP3936912B2 | conteur d'échantillons avec couvercle flottant pour l'analyse des liquits par rayons X | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air |
US9239305B2 | Porte-echantillon | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
US9547094B2 CN104849295B Ep2908127b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602014011398.2) JP6526983B2 |
服装分析X人造丝 |
1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air |
US7978820B2 |
射线衍射X等荧光 | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
US7194067B2 |
Système optique à人造丝X | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1) |
源人造纤维X avec阴极à fil métallique | 1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de602015012421.9) |
处置阳极管à人造丝X |
1 Spectromètres 3X ε 4 Édition qualité de l'air* |
*可选/非标准丹勒产品 |
XRD posé金溶胶
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US6815684B2 |
服装d'analyse par rayons X analytique fourni avec un détecteur de rayons X à半导体sensible à la position | 苍天 X 'Pert³粉 X'Pert³MRD (XL) 全音域根据³ |
US6823043B2 | Détermination des paramètres du matériau |
苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
US6574305B2 |
Dispositif et méthode d'inspection de l'état d'un échantillon | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
US9506880B2 CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 |
像射衍射 | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
US7116754B2 | Diffractometre | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
US8488740B2 JP6009156B2 CN102565108B Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3) |
Diffractometre |
苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B Ep2088451b1 (gb, fr, nl, de602008041760.3) |
Detecteur d 'imagerie | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
Ep2088625b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602009040563.2) | Detecteur d 'imagerie | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
US9110003B2 CN103383363B Ep2634566b1 (gb, fr, nl, de602012058202.2) JP6198406B2 |
微衍射 |
苍天 X 'Pert³粉 X'Pert³MRD (XL) 全音域根据³ |
US6704390B2 |
服装分析用人造丝X四反射多面体和非准直机 | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
US9640292B2 CN104777179B Ep2896960b1 (gb, fr, nl, de602014012155.1) JP6564683B2 |
服装à人造丝X |
苍天 X 'Pert³粉 海滨根据³ |
US7756248B2 JP5145263B2 CN101545873B Ep2090883b1 (gb, fr, nl, de602008002143d1) |
Détecteur人造纤维X丹斯装饰 |
苍天 X 'Pert³粉 X'Pert³MRD (XL) |
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B Ep2365319b1 (gb, fr, nl, de602011055847.1) |
射线衍射X et tomodensitométrie | 苍天 X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B Ep1947448b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602007031351.1) |
Équipement衍射人造纤维X倒la扩散人造纤维X |
X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* |
Ep1287342b1 (gb, fr, de60147121.0) | Diffractomètres à人造纤维X | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
US7477724B2 Ep1703276b1 (gb, fr, nl, de602005033962.0) |
仪器à人造丝X | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 海滨根据³ |
US7194067B2 |
Système optique à人造丝X | 苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B Ep2477191b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602011035906.1) |
处置l'闭孔à人造纤维X | 苍天 X 'Pert³粉 X'Pert³MRD (XL) 全音域根据³ |
US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b1 (gb, fr, nl, de602015012421.9) |
处置阳极管à人造丝X |
苍天* X 'Pert³粉* X'Pert³MRD (XL)* 全音域根据³* |
EP3553508A2 US20190317030A1 JP2019184609A CN110389142A |
Appareil et méthode d'analyse par rayons X | 苍天* |
US10359376B2 EP3273229A1 JP6701133B2 CN107643308A |
Porte-échantillon pour analyze par rayons X | 苍天* |
*可选/非标准丹勒产品 |
QualitySpec 7000
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US8164747B2 CA2667650C Ep2092296b1 (ch + li, nl, se, dk, de602007045593.6) |
服装,système et méthode de mesure spectroscopque optique | QualitySpec 7000 |
TerraSpec晕
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US9207118B2 | 服装,système et méthode pour la lecture de l'instrumentation du spectromètre单色仪et à二极管发夹 | TerraSpec晕 |
QualitySpec长途跋涉
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US9207118B2 | 服装,système et méthode pour la lecture de l'instrumentation du spectromètre单色仪et à二极管发夹 | QualitySpec长途跋涉 |
paillasse的XRD
Numéros德布莱卫 | Titre du brevet | 仪器 |
---|---|---|
US6815684B2 |
服装d'analyse par rayons X analytique fourni avec un détecteur de rayons X à半导体sensible à la position | Aeris * |
US6823043B2 | Détermination des paramètres du matériau |
Aeris * |
US9506880B2 CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 |
像射衍射 | Aeris * |
US7116754B2 | Diffractometre | Aeris * |
US8488740B2 JP6009156B2 CN102565108B Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3) |
Diffractometre | Aeris * |
US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B Ep2088451b1 (gb, fr, nl, de602008041760.3) |
Detecteur d 'imagerie | Aeris * |
Ep2088625b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602009040563.2) | Detecteur d 'imagerie | Aeris * |
US6704390B2 |
服装分析用人造丝X四反射多面体和非准直机 | Aeris * |
US9640292B2 JP6564572B2 CN104777179B Ep2896960b1 (gb, fr, nl, de602014012155.1) |
服装à人造丝X | Aeris |
US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B Ep2365319b1 (gb, fr, nl, de602011055847.1) |
射线衍射X et tomodensitométrie | Aeris * |
US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B Ep1947448b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602007031351.1) |
Équipement衍射人造纤维X倒la扩散人造纤维X |
Aeris * |
Ep1287342b1 (gb, fr, de60147121.0) | Diffractomètres à人造纤维X | Aeris * |
US7477724B2 Ep1703276b1 (gb, fr, nl, de602005033962.0) |
仪器à人造丝X | Aeris * |
US7194067B2 |
Système optique à人造丝X | Aeris * |
US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B Ep2477191b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602011035906.1) |
处置l'闭孔à人造纤维X | Aeris |
US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b1 (gb, fr, nl, de602015012421.9) |
处置阳极管à人造丝X |
Aeris * |
*可选/非标准丹勒产品 |