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马卡报商业
| 马卡报商业 | 带动下 |
|---|---|
| AERIS | ® |
| AERIS PANALYTICAL | ® |
| Logotipo (ASD公司) | ® |
| 阿基米德 | ® |
| AXIOS | ® |
| 波林 | ™ |
| CHI-BLUE | ® |
| Claisse | ® |
| 根据 | ® |
| CUBIX3 (superindice 3) | ® |
| dCore | ™ |
| EAGON | ® |
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| 容易一枝 | ® |
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| Insitec | ® |
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| ZETIUM | ® |
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专利
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Mastersizer
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| Ep1167946b1 (gb, fr, de60135521d1) | Sistema cambiador de muestras | 水电中压，水电低压，水电EV |
| GB2364774B US6800251B2 |
在联合国装备方面，该组织将为您提供便利caracterización de partículas | 液压中压，液压低压 |
| GB2494735B | 一队警察distribución del tamaño de partículas中卫dispersión de luz | MS3000, MS3000E |
| CN104067105B Ep2756283b1 (gb, fr, de602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B |
装备método para medier la distribución del tamaño de partículas中卫dispersión de luz | MS3000, MS3000E |
| US10837889B2 GB2494734B |
装备método para medier la distribución del tamaño de partículas中卫dispersión de luz | MS3000, MS3000E |
Zetasizer
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US7217350B2 |
电影的效果和衍生品的效果 | Gama zezeizer Advance, Nano ZS, Nano Z, Nano ZS90, Nano ZSP, Helix |
| EP2467701A1 CN102575984B US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US20200096443A1 |
Microrreología dinámica basada en dispersión de luz de líquidos compljos con detección mejorada del modo de dispersión única | 伽马Zetasizer Advance，纳米ZSP，螺旋 |
| CN103608671B CN105891304B Ep2721399b1 (be, ch + li, dk, fr, gb, nl, de602012031338.2, it502017000050268) JP06023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US20200072888A1 |
Medición de carga肤浅 | celda, celda, placa Zeta |
| US8702942B2 CN103339500B Ep2652490b1 (gb, fr, de602011046775.1) JP06006231B2 JP06453285B2 US10648945B2 |
电森林láser多普勒雷达difusión | Gama zezeizer Advance, Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP |
| Ep2742337b1 (gb, fr, de602012018122.2) US9816922B2 |
Caracterización de modo doble de partículas | Zetasizer螺旋 |
| US10197485B2 US10520412B2 US10845287B2 EP3353527A1 JP2018535429A CN108291861A |
Caracterizacion de particulas | 伽马Zetasizer提前 |
| US10119910B2 | 仪器caracterización de partículas | Zetasizer Advance: Ultra Pro |
| US8675197B2 JP6059872B2 EP2404157B1 |
Caracterizacion de particulas | Accesorio Zetasizer提前 |
| EP3521806A1 US20210063295A1 CN111684261A WO2019154882A1 |
Dispersión de luz dinámica de ángulo múltiple | Zetasizer推进:超 |
Insitec
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US7418881B2 EP1592957B1 (GB) |
Método y sistema de dilución | Insitec(进行监测或含) |
| US7871194B2 EP1869429A2 |
Método y sistema de dilución | Insitec(进行监测或含) |
| EP2640499B1 (GB) | Método de mezcla de polvo y分散剂en línea | Insitec干 |
Morphologi
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| Ep2106536b1 (gb, fr, de602008039489.1) US8111395B2 US8564774B2 |
Investigación espectrométrica de la heterogeneidad | Morphologi G3-ID |
| GB2522735B JP6560849B2 |
Método y装备para la dispersión de polvo | 形态学G3- id，形态学G3 |
Viscosizer
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US2018067901A1 JP2018511129A EP3274864A1 CN107430593A |
Parametrización de modelos de múltiples components | Viscosizer TD |
水电的景象
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US8456633B2 | Monitoreo de proceso espectrométrico | 水电的景象 |
| CN104704343B EP2864760A2 US10509976B2 |
Caracterización de muestra de fluido heterogénea | 水电的景象 |
NanoSight
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US7751053B2 JP04002577B2 DE60335872.1 EP1499871B1 (FR) GB2388189B US7399600B2 |
Detección óptica para el análisis de partículas | NanoSight NS300 NanoSight NS500 NanoSight LM10 |
| Ep3071944b1 (gb, fr, de602014059002.0) US9909970B2 JP6505101B2 CN105765364A |
Mejoras en o relacionadas con la calibración de instruments | NanoSight NS300 |
MicroCal ITC
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| CN101855541B EP2208057A1 JP05542678B2 US8449175C1 US8827549C1 |
microcalorímetro de titulación isotérmica y método de uso | 微碳ITC |
| CN102232184B Ep2352993b1 (ch + li, gb, fr, de602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 Ep3144666b1 (ch + li, gb, fr, de602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776A1 |
microcalorímetro de titulación isotérmica automática y método de uso | 微碳ITC |
MicroCal DSC
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US8635045B2 CN103221808B EP2646811A1 IN336472 JP5925798B2 |
Método para la determinación automática del pico en datos calorimétricos | 微cal DSC |
OMNISEC
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US9759644B2 US10551291B2 |
Viscosímetro de puente capilar equilibrium | OMNISEC |
| US9612183B2 Ep2619543b1 (gb, fr, de602011011174.4) JP05916734B2 CN103168223B IN341558 |
Viscosímetro de puente capilar模块化 | OMNISEC |
光谱仪德庇索
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1) |
诺佩尔拉 | Zetium Axios快 Epsilon5 |
| US6823043B2 | Determinación de parámetros de materiales |
Zetium * Axios快* 2830 ZT (analizador de obleas)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US7949092B2 |
性情método para realizar análisis de rayos X |
Zetium * Axios快* 2830 ZT (analizador de obleas)* Epsilon5 * SEMYOS |
| US6574305B2 |
性情método para la inspección de la condición de una muestra | Zetium * Axios快* 2830 ZT (analizador de obleas)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| JP4111336B2 | 按照规定，必须遵守规则 |
Epsilon5 |
| US7042978B2 | studio de muestras de material | Zetium * Axios快* Epsilon5 SEMYOS * |
| JP5782451B2 Ep2510397b1 (gb, fr, nl, de602010021859.7) |
Método多结构结构的结构结构的结构patrón侧结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的结构结构的图像结构结构的结构结构según este método | Zetium * Axios快 2830 ZT (analizador de obleas)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US9658352B2 CN104833557B JP656263B2 JP6804594B2 |
Método de preparación de un estándar | Zetium Axios快 |
| Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6) JP6360151B2 |
Preparación de bolitas de muestra mediante presión | Zetium Axios快 |
| US10107551B2 Ep2966039b1 (gb, fr, nl, de602014024004.2) JP6559486B2 CN105258987B |
Preparación用XRF和柏拉图的crisol de platino和flujo | Zetium Axios快 |
| US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
Análisis cuantitativo de rayos X: corrección del espesor de la matriz | Zetium * Axios快 |
| US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
Análisis cuantitativo de rayos X:乐器de camino óptico múltiple | Zetium * Axios快 |
| US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B Ep3064932b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602016024126.9) |
Análisis cuantitativo de rayos X: corrección de la relación | Zetium * Axios快 |
| JP3936912B2 | 竞争对手的法律和法律análisis的法律和法律líquidos | Zetium Axios快 2830 ZT (analizador de obleas) Epsilon5 SEMYOS |
| US9239305B2 | Soporte de样品检测 | Zetium * Axios快* Epsilon5 |
| US7978820B2 |
Difracción y荧光射线X | Zetium * Axios快* 2830 ZT (analizador de obleas)* Epsilon5 * SEMYOS |
| US7720192B2 JP5574575B2 CN101311708B |
荧光辐射设备 | Zetium * Axios快* 2830 ZT (analizador de obleas)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US7194067B2 |
Sistema óptico de rayos X | Zetium * Axios快* 2830 ZT (analizador de obleas)* Epsilon5 * SEMYOS |
| US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1) |
Fuente de rayos X con cátodo de cable de metal | Zetium Axios快 2830 ZT (analizador de obleas) Epsilon5 SEMYOS |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de6020150124221.9) |
Distribución del ánodo del tubo de rayos X |
Zetium Axios快 2830 ZT (analizador de obleas) Epsilon5 SEMYOS |
| US10281414B2 Ep3330701b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602017006751.2) EP3480587A1 US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267A |
科利马多cónico para mediciones de rayos X。 | Zetium * |
| *可选/无estándar en el producto | ||
XRF de mesa de trabajo
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1) |
诺佩尔拉 | Rangoε1 Espectrometrosε3 x Edición de calidad del aire Epsilon 4 |
| US6823043B2 | Determinación de parámetros de materiales |
雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| US7949092B2 |
性情método para realizar análisis de rayos X |
雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| US6574305B2 |
性情método para la inspección de la condición de una muestra | 雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| US7042978B2 | studio de muestras de material | 雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| US9658352B2 CN104833557B JP6562635B2 JP6804594B2 |
Método de preparación de un estándar | Rangoε1 Espectrometrosε3 x Edición de calidad del aire Epsilon 4 |
| Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6) JP6360151B2 |
Preparación de bolitas de muestra mediante presión | Rangoε1 Espectrometrosε3 x Edición de calidad del aire Epsilon 4 |
| US10107551B2 JP6559486B2 CN105258987B Ep2966039b1 (gb, fr, nl, de602014024004.2) |
Preparación用XRF和柏拉图的crisol de platino和flujo | Rangoε1 Espectrometrosε3 x Edición de calidad del aire Epsilon 4 |
| US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
Análisis cuantitativo de rayos X: corrección del espesor de la matriz | 雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de602016056347.9) |
Análisis cuantitativo de rayos X:乐器de camino óptico múltiple | 雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B Ep3064932b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602016024126.9) |
Análisis cuantitativo de rayos X: corrección de la relación | 雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| JP3936912B2 | 竞争对手的法律和法律análisis的法律和法律líquidos | Rangoε1 Espectrometrosε3 x Edición de calidad del aire Epsilon 4 |
| US9239305B2 | Soporte de样品检测 | 雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| US9547094B2 CN104849295B Ep2908127b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602014011398.2) JP6526983B2 |
设备análisis de rayos X |
Rangoε1 Espectrometrosε3 x Edición de calidad del aire Epsilon 4 |
| US7978820B2 |
Difracción y荧光射线X | 雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| US7194067B2 |
Sistema óptico de rayos X | 雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1) |
Fuente de rayos X con cátodo de cable de metal | 雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de6020150124221.9) |
Distribución del ánodo del tubo de rayos X |
雷哥1 * Espectrometrosε3 x * Edición calidad del aire Epsilon 4* |
| *可选/无estándar en el producto | ||
XRD德庇索
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US6815684B2 |
设备analítico雷os X管理人员与雷os X管理人员的探测人员posición de estado sólido | 苍天 X 'Pert³粉 X 'Pert³MRD (XL) Rango根据³ |
| US6823043B2 | Determinación de parámetros de materiales |
苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| US6574305B2 |
性情método para la inspección de la condición de una muestra | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| US9506880B2 CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 |
画像de difraccion | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| US7116754B2 | Difractometro | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| US8488740B2 JP6009156B2 CN102565108B Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3) |
Difractometro |
苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B Ep2088451b1 (gb, fr, nl, de602008041760.3) |
探测器de画像 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| Ep2088625b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602009040563.2) | 探测器de画像 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| US9110003B2 CN103383363B Ep2634566b1 (gb, fr, nl, de602012058202.2) JP6198406B2 |
Microdifraccion |
苍天 X 'Pert³粉 X 'Pert³MRD (XL) Rango根据³ |
| US6704390B2 |
装备análisis墨西哥人，多种族，多种族的科利马多·萨里达 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| US9640292B2 CN104777179B Ep2896960b1 (gb, fr, nl, de602014012155.1) JP6564683B2 |
专业装备 |
苍天 X 'Pert³粉 Rango根据³ |
| US7756248B2 JP5145263B2 CN101545873B Ep2090883b1 (gb, fr, nl, de602008002143d1) |
Detección de rayos X en el empaque |
苍天 X 'Pert³粉 X 'Pert³MRD (XL) |
| US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B Ep2365319b1 (gb, fr, nl, de602011055847.1) |
Difracción de rayos X y tomografía computarizada | 苍天 X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B Ep1947448b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602007031351.1) |
装备difracción雷os X para dispersión雷os X |
X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * |
| Ep1287342b1 (gb, fr, de60147121.0) | Difractómetro de rayos X | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| US7477724B2 Ep1703276b1 (gb, fr, nl, de602005033962.0) |
射线仪器X | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³ |
| US7194067B2 |
Sistema óptico de rayos X | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B Ep2477191b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602011035906.1) |
Distribución del obturador de rayos X | 苍天 X 'Pert³粉 X 'Pert³MRD (XL) Rango根据³ |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b1 (gb, fr, nl, de6020150124221.9) |
Distribución del ánodo del tubo de rayos X |
苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * Rango根据³* |
| EP3553508A2 US20190317030A1 JP2019184609A CN110389142A |
装备método de análisis de rayos X | 苍天* |
| US10359376B2 EP3273229A1 JP6701133B2 CN107643308A |
音乐之歌的演唱者análisis | 苍天* |
| *可选/无estándar en el producto | ||
QualitySpec 7000
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US8164747B2 CA2667650C Ep2092296b1 (ch + li, nl, se, dk, de602007045593.6) |
设备，系统método para mediciones espectroscópicas ópticas | QualitySpec 7000 |
TerraSpec晕
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 设备，系统método单孔切口instrumentación de espectrómetro de haz de diodos | TerraSpec晕 |
QualitySpec长途跋涉
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 设备，系统método单孔切口instrumentación de espectrómetro de haz de diodos | QualitySpec长途跋涉 |
XRD de mesa de trabajo
| 是德patente | Titulo de patente | Instrumentos |
|---|---|---|
| US6815684B2 |
设备analítico雷os X管理人员与雷os X管理人员的探测人员posición de estado sólido | Aeris * |
| US6823043B2 | Determinación de parámetros de materiales |
Aeris * |
| US9506880B2 CN104251870B EP2818851A1 JP6403452B2 |
画像de difraccion | Aeris * |
| US7116754B2 | Difractometro | Aeris * |
| US8488740B2 JP6009156B2 CN102565108B Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3) |
Difractometro | Aeris * |
| US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B Ep2088451b1 (gb, fr, nl, de602008041760.3) |
探测器de画像 | Aeris * |
| Ep2088625b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602009040563.2) | 探测器de画像 | Aeris * |
| US6704390B2 |
装备análisis墨西哥人，多种族，多种族的科利马多·萨里达 | Aeris * |
| US9640292B2 JP6564572B2 CN104777179B Ep2896960b1 (gb, fr, nl, de602014012155.1) |
专业装备 | Aeris |
| US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B Ep2365319b1 (gb, fr, nl, de602011055847.1) |
Difracción de rayos X y tomografía computarizada | Aeris * |
| US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B Ep1947448b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602007031351.1) |
装备difracción雷os X para dispersión雷os X |
Aeris * |
| Ep1287342b1 (gb, fr, de60147121.0) | Difractómetro de rayos X | Aeris * |
| US7477724B2 Ep1703276b1 (gb, fr, nl, de602005033962.0) |
射线仪器X | Aeris * |
| US7194067B2 |
Sistema óptico de rayos X | Aeris * |
| US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B Ep2477191b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602011035906.1) |
Distribución del obturador de rayos X | Aeris |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B Ep3043371b1 (gb, fr, nl, de6020150124221.9) |
Distribución del ánodo del tubo de rayos X |
Aeris * |
*可选/无estándar en el producto |
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