XRF | x射线荧光

什么是x射线荧光?

x射线荧光(XRF)是一种分析技术，可用于确定各种样品类型的化学成分，包括固体、液体、泥浆和松散粉末。x射线荧光也用于确定层和涂层的厚度和组成。它可以分析从铍(Be)到铀(U)的浓度范围从100 wt%到ppm以下的水平。

x射线荧光分析的好处是什么?

XRF分析是一种稳健的技术，结合了高精度和准确性，简单，快速的样品制备。它可以很容易地在高通量工业环境中自动化使用，加上XRF提供样品的定性和定量信息。“什么”的简单组合?和“多少钱?”信息也使快速筛选(半定量)分析成为可能。

光谱仪原理

XRF是一种原子发射方法，在这方面与光学发射光谱(OES)、ICP和中子活化分析(伽马能谱)相似。这种方法可以测量样品中被激发的原子所发出的“光”(这里是x射线)的波长和强度。在XRF中，由x射线管中的主x射线束照射，引起荧光x射线的发射，具有样品中元素的离散能量特征。

元素组成的测定

用于样品x射线荧光光谱的分离(色散)、识别和强度测量的技术产生了两种主要类型的光谱仪:波长色散(WDXRF)和能量色散(EDXRF)系统。

光谱仪分析

我们提供广泛的x射线荧光溶液，用于分析各种材料和应用的元素组成，并包括波长和能量色散溶液。在下表中找到我们的解决方案组合: