XRD |X射线衍射

从粉末和固体到薄膜和纳米材料

在材料研究中,科学家有许多与材料样品晶体构成有关的分析问题。X射线衍射(XRD)是唯一揭示结构信息的实验室技术,例如化学成分,晶体结构,晶体大小,应变,优选方向和层厚度。因此,材料研究人员使用XRD来分析从粉末X射线衍射(XRPD)到固体,薄膜和纳米材料的广泛材料。

科学和工业

许多研究人员在工业和科学实验室中都依靠X射线衍射(XRD)作为开发新材料或提高生产效率的工具。X射线衍射的创新紧随对新材料的研究,例如半导体技术或药物调查。工业研究针对生产过程的速度和效率不断增加。全自动X射线衍射分析采矿和建筑材料生产地点为生产控制提供了更具成本效益的解决方案。

分析问题的XRD解决方案

X射线衍射分析满足了材料科学家的许多分析需求。在粉末中,化学阶段被定性和定量鉴定。高分辨率X射线衍射揭示了层参数,例如半导体薄膜中的组成,厚度,粗糙度和密度。小角度X射线散射和配对分布函数(PDF)分析有助于分析纳米材料的结构特性。可以在各种固体物体和工程组件中确定应力和首选方向。

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技术
X射线衍射(XRD)
测量类型
粒子形状
粒度
晶体结构测定
相识别
相位定量
污染物检测和分析
外延分析
接口粗糙度
3D结构 /成像
薄膜计量学
残余应力
Baidu
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