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商标
| 商标 | 状态 |
|---|---|
| AERIS | ® |
| AERIS PANALYTICAL | ® |
| (ASD Inc)的标志 | ® |
| 阿基米德 | ® |
| 轴 | ® |
| 波林 | ™ |
| 奇战 | ® |
| 克里斯斯 | ® |
| 根据 | ® |
| CUBIX3(3的上标) | ® |
| 德科尔斯 | ™ |
| EAGON | ® |
| Eagon 2 | ® |
| 容易一枝 | ® |
| 苍天 | ® |
| ε | ® |
| epsilon x-flow | ® |
| 专家一枝 | ® |
| 容易一枝 | ® |
| FieldSpec | ® |
| FIPA | ® |
| 萤石'X | ® |
| GALIPIX 3 d | ® |
| 双子座 | ™ |
| goLab | ™ |
| 手持2 | ™ |
| 高分 | ® |
| 水底 | ™ |
| iCore | ™ |
| (我的标志) | ® |
| Indico职业 | ™ |
| Insitec | ® |
| (Insitec标志) | ® |
| (Insitec Measurement Systems公司标识) | ® |
| ISys | ® |
| LabSizer | ™ |
| LabSpec | ® |
| LeNeo | ® |
| LeDoser | ™ |
| LeDoser-12 | ™ |
| m3 pals. | ™ |
| M4 | ™ |
| MADLS | ® |
| 莫尔文 | ® |
| (三角山标志+马尔文仪器) | ® |
| 汉字的马尔曼 | ® |
| 莫尔文仪器 | ® |
| 汉字的莫尔文乐器 | ® |
| 莫尔文链接 | ™ |
| （Malvern Plus Hills Logo） | ® |
| Mastersizer | ® |
| Mastersizer 2000 | ™ |
| MC(风格) | ® |
| 耐多药 | ® |
| Microcal | ® |
| Morphologi | ® |
| (三角山标志) | ® |
| Nanosight | ® |
| 尖端 | ™ |
| 油痕 | ® |
| OMNIAN | ® |
| omnisec. | ® |
| 概要 | ® |
| PANALYTICAL标志(图) | ® |
| PANTOS. | ® |
| PEAQ-ITC | ® |
| PIXCEL | ® |
| PIXCEL 1 d | ® |
| PIXCEL 3 d | ® |
| QualitySpec | ® |
| （r徽标） | ® |
| （Realogica徽标） | ® |
| Spraytec | ™ |
| 风场 | ® |
| SST-MAX | ® |
| 超锋利管 | ® |
| STRATOS | ® |
| 超级问 | ® |
| Synirgi. | ® |
| TerraSpec | ® |
| TheOx®先进 | ® |
| Ultrasizer | ® |
| 金星Minilab. | ® |
| ViewSpec | ™ |
| viscogel | ® |
| Viscotek | ® |
| X 'CELERATOR | ® |
| Xpert3（SuperIndex 3） | ® |
| Zetasizer | ® |
| ZETIUM | ® |
| z螺旋 | ® |
专利
bob欧宝体育莫尔文公司拥有一系列独特的、市场领先的产品，这些产品受到以下专利和专利申请的保护
Mastersizer
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| Ep1167946b1 (gb, fr, de60135521d1) | 样品处理系统 | 水电MV，水电LV，水电EV |
| GB2364774B US6800251B2 |
用于粒子表征装置的样品处理系统 | 水电MV，水电LV |
| GB2494735B | 通过光散射测量粒度分布的装置 | MS3000, MS3000E |
| CN104067105B Ep2756283b1 (gb, fr, de602012015707.0) US9869625B2 JP6154812B |
光散射测量颗粒大小分布的仪器和方法 | MS3000, MS3000E |
| US10837889B2 GB2494734B |
光散射测量颗粒大小分布的仪器和方法 | MS3000, MS3000E |
Zetasizer
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US7217350B2 |
表面电荷的迁移率和效应 | zetasizer推进范围，纳米zs，纳米z，纳米zs90，纳米zsp，螺旋 |
| EP2467701A1 CN102575984B US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US20200096443A1 |
基于动态光散射的复杂流体微流变学与改进的单散射模式检测 | Zetasizer推进范围，纳米ZSP，螺旋 |
| CN103608671B CN105891304B Ep2721399b1 (be, ch + li, dk, fr, gb, nl, de602012031338.2, it502017000050268) JP06023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US20200072888A1 |
表面电荷测量 | Zeta平板电池配件 |
| US8702942B2 CN103339500B. Ep2652490b1 (gb, fr, de602011046775.1) JP06006231B2 JP06453285B2 US10648945B2 |
使用扩散屏障激光多普勒电泳 | Zetasizer先进范围，Nano ZS, Nano S, Nano ZS90, S90, Nano ZSP |
| Ep2742337b1 (gb, fr, de602012018122.2) US9816922B2 |
粒子的双模式表征 | Zetasizer螺旋 |
| US10197485B2 US10520412B2 US10845287B2 EP3353527A1 JP2018535429A CN108291861A |
粒子表征 | Zetasizer推进范围 |
| US10119910B2 | 粒子表征仪器 | Zetasizer高级版:Ultra和Pro |
| US8675197B2 JP6059872B2 EP2404157B1. |
粒子表征 | Zetasizer推进配件 |
| EP3521806A1 US20210063295A1 CN111684261A WO2019154882A1 |
多角度动态光散射 | Zetasizer推出：超级 |
Insitec
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US7418881B2 EP1592957B1 (GB) |
稀释系统和方法 | Insitec（一些产品） |
| US7871194B2 EP1869429A2 |
稀释系统和方法 | Insitec（一些产品） |
| EP2640499B1（GB） | 直列分散器和粉末混合方法 | Insitec干 |
Morphologi
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| Ep2106536b1 (gb, fr, de602008039489.1) US8111395B2 US8564774B2 |
非均匀性的光谱研究 | Morphologi G3-ID |
| GB2522735B JP6560849B2 |
粉末分散的方法和设备 | 形态学G3- id，形态学G3 |
Viscosizer
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US2018067901A1 JP2018511129A EP3274864A1 CN107430593A |
多组分的模型参数化 | 粘液器TD. |
水电的景象
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8456633B2 | 光谱过程监测 | 水电的景象 |
| CN104704343B EP2864760A2 US10509976B2 |
异质流体样本表征 | 水电的景象 |
NanoSight
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US7751053B2 JP04002577B2 DE60335872.1 EP1499871B1 (FR) GB2388189B US7399600B2 |
粒子分析的光学检测 | NanoSight NS300 Nanosight NS500. NanoSight LM10 |
| Ep3071944b1 (gb, fr, de602014059002.0) US9909970B2. JP6505101B2 CN105765364A |
仪器校准方面的改进或与之有关的改进 | NanoSight NS300 |
MicroCal ITC
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| CN101855541B EP2208057A1 JP05542678B2 US8449175C1 US8827549C1 |
等温滴定微量热计装置及使用方法 | MicroCal ITC范围 |
| CN102232184B Ep2352993b1 (ch + li, gb, fr, de602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 Ep3144666b1 (ch + li, gb, fr, de602009059932.1) US20200025698A1 EP3647776A1 |
全自动等温滴定微量热计装置及使用方法 | MicroCal ITC范围 |
MicroCal DSC
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8635045B2 CN103221808B EP2646811A1 IN336472 JP5925798B2 |
在量热数据中自动峰值发现的方法 | MicroCal DSC范围 |
omnisec.
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US9759644B2 US10551291B2 |
平衡式毛细管桥式粘度计 | omnisec. |
| US9612183B2 Ep2619543b1 (gb, fr, de602011011174.4) JP05916734B2 CN103168223B IN341558 |
模块化毛细管桥式粘度计 | omnisec. |
地板上站光谱仪
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1) |
珠炉 | Zetium Axios快 Epsilon5 |
| US6823043B2 | 材料参数的确定 |
Zetium * Axios快* 2830 ZT(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US7949092B2 |
执行x射线分析的装置和方法 |
Zetium * Axios快* 2830 ZT(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS |
| US6574305B2 |
检验样品状况的装置和方法 | Zetium * Axios快* 2830 ZT(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| JP4111336B2 | 用X射线测试样品的装置 |
Epsilon5 |
| US7042978B2 | 材料样品检验 | Zetium * Axios快* Epsilon5 SEMYOS * |
| JP5782451B2 Ep2510397b1 (gb, fr, nl, de602010021859.7) |
用于制造具有适用于xuv波长范围的横向图案的多层结构的方法，以及根据该方法制造的bf和imagag结构 | Zetium * Axios快 2830 ZT(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US9658352B2 CN104833557B JP656263B2 JP6804594B2 |
制作标准的方法 | Zetium Axios快 |
| Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6) JP6360151B2 |
压片法制备样品球团 | Zetium Axios快 |
| US10107551B2. EP2966039B1（GB，FR，NL，DE602014024004.2） JP6559486B2 CN105258987B |
用助焊剂和铂坩埚制备XRF样品 | Zetium Axios快 |
| US9784699B2. JP6861469B2 CN105937890B Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
x射线定量分析-基体厚度校正 | Zetium * Axios快 |
| US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
定量X射线分析 - 多光路仪器 | Zetium * Axios快 |
| US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1（GB，FR，NL，CH + LI，DE602016024126.9） |
定量x射线分析-比率校正 | Zetium * Axios快 |
| JP3936912B2 | 具有浮动盖的样品容器，用于液体X射线分析 | Zetium Axios快 2830 ZT(晶片分析仪) Epsilon5 SEMYOS |
| US9239305B2 | 样品架 | Zetium * Axios快* Epsilon5 |
| US7978820B2 |
x射线衍射和荧光 | Zetium Axios快* 2830 ZT(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US7720192B2 JP5574575B2 CN101311708B |
x射线荧光仪 | Zetium * Axios快* 2830 ZT(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US7194067B2 |
x射线光学系统 | Zetium Axios快* 2830 ZT(晶圆分析仪)* Epsilon5 * SEMYOS * |
| US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1) |
金属丝阴极x射线源 | Zetium Axios快 2830 ZT(晶片分析仪) Epsilon5 SEMYOS |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B. Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de602015012421.9) |
x射线管阳极布置 |
Zetium Axios快 2830 ZT(晶片分析仪) Epsilon5 SEMYOS |
| US10281414B2 Ep3330701b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602017006751.2) EP3480587A1 US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267A |
x射线测量用锥形准直器 | Zetium * |
| *·产品可选/不是标准品 | ||
台式光谱仪
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B Ep2270410b1 (gb, fr, nl, de602009003389.1) |
珠炉 | ε1范围内 ε3 x光谱分析仪 Epsilon 4空气质量版 |
| US6823043B2 | 材料参数的确定 |
ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| US7949092B2 |
执行x射线分析的装置和方法 |
ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| US6574305B2 |
检验样品状况的装置和方法 | ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| US7042978B2 | 材料样品检验 | ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| US9658352B2 CN104833557B JP6562635B2 JP6804594B2 |
制作标准的方法 | ε1范围内 ε3 x光谱分析仪 Epsilon 4空气质量版 |
| Ep2787342b1 (gb, fr, nl, de602013028642.6) JP6360151B2 |
压片法制备样品球团 | ε1范围内 ε3 x光谱分析仪 Epsilon 4空气质量版 |
| US10107551B2. JP6559486B2 CN105258987B EP2966039B1（GB，FR，NL，DE602014024004.2） |
用助焊剂和铂坩埚制备XRF样品 | ε1范围内 ε3 x光谱分析仪 Epsilon 4空气质量版 |
| US9784699B2. JP6861469B2 CN105937890B Ep3064931b1 (gb, fr, nl, ch, de) |
x射线定量分析-基体厚度校正 | ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B Ep3064933b1 (gb, fr, nl, ch, de602016056347.9) |
定量X射线分析 - 多光路仪器 | ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1（GB，FR，NL，CH + LI，DE602016024126.9） |
定量x射线分析-比率校正 | ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| JP3936912B2 | 具有浮动盖的样品容器，用于液体X射线分析 | ε1范围内 ε3 x光谱分析仪 Epsilon 4空气质量版 |
| US9239305B2 | 样品架 | ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| US9547094B2 CN104849295B Ep2908127b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602014011398.2) JP6526983B2 |
x射线分析仪器 |
ε1范围内 ε3 x光谱分析仪 Epsilon 4空气质量版 |
| US7978820B2 |
x射线衍射和荧光 | ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| US7194067B2 |
x射线光学系统 | ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B Ep1983547b1 (gb, fr, nl, de602008000361d1) |
金属丝阴极x射线源 | ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B. Ep3043371b2 (gb, fr, nl, de602015012421.9) |
x射线管阳极布置 |
ε1范围* ε3 x光谱仪* 空气质量版* |
| *可选/非标准产品 | ||
地板上站XRD
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US6815684B2 |
分析x射线装置，提供固态位置灵敏的x射线探测器 | 苍天 X 'Pert³粉 X 'Pert³MRD (XL) 根据³范围 |
| US6823043B2 | 材料参数的确定 |
苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| US6574305B2 |
检验样品状况的装置和方法 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| US9506880B2 CN104251870B. EP2818851A1 JP6403452B2 |
衍射成像 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| US7116754B2 | 衍射仪 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| US8488740B2. JP6009156B2. CN102565108B Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3) |
衍射仪 |
苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B Ep2088451b1 (gb, fr, nl, de602008041760.3) |
成像探测器 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| Ep2088625b1 (gb, fr, nl, ch + li, de602009040563.2) | 成像探测器 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| US9110003B2 CN103383363B Ep2634566b1 (gb, fr, nl, de602012058202.2) JP6198406B2 |
微衍射 |
苍天 X 'Pert³粉 X 'Pert³MRD (XL) 根据³范围 |
| US6704390B2 |
具有多层反射镜和出口准直器的x射线分析装置 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| US9640292B2 CN104777179B Ep2896960b1 (gb, fr, nl, de602014012155.1) JP6564683B2 |
X射线设备 |
苍天 X 'Pert³粉 根据³范围 |
| US7756248B2 JP5145263B2 CN101545873B Ep2090883b1 (gb, fr, nl, de602008002143d1) |
包装x射线检测 |
苍天 X 'Pert³粉 X 'Pert³MRD (XL) |
| US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1（GB，FR，NL，DE602011055847.1） |
x射线衍射和计算机断层摄影术 | 苍天 X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B Ep1947448b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602007031351.1) |
用于x射线散射的x射线衍射设备 |
X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * |
| EP1287342B1（GB，FR，DE60147121.0） | x射线衍射仪 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| US7477724B2 Ep1703276b1 (gb, fr, nl, de602005033962.0) |
X射线仪器 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围 |
| US7194067B2 |
x射线光学系统 | 苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1（CH + LI，GB，FR，NL，DE602011035906.1） |
x光快门安排 | 苍天 X 'Pert³粉 X 'Pert³MRD (XL) 根据³范围 |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B. Ep3043371b1 (gb, fr, nl, de602015012421.9) |
x射线管阳极布置 |
苍天* X 'Pert³粉* X 'Pert³MRD (XL) * 根据³范围* |
| EP3553508A2 US20190317030A1 JP2019184609A CN110389142A |
x射线分析仪器及方法 | 苍天* |
| US10359376B2 EP3273229A1 JP6701133B2 CN107643308A |
x射线分析的样品支架 | 苍天* |
| *可选/非标准产品 | ||
QualitySpec 7000
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8164747B2 CA2667650C Ep2092296b1 (ch + li, nl, se, dk, de602007045593.6) |
光学光谱测量的仪器、系统和方法 | QualitySpec 7000 |
TerraSpec晕
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 扫描单色仪和二极管阵列光谱仪的仪器、系统和方法 | TerraSpec晕 |
QualitySpec Trek.
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US9207118B2 | 扫描单色仪和二极管阵列光谱仪的仪器、系统和方法 | QualitySpec Trek. |
台式XRD
| 专利号 | 专利名称 | 仪器 |
|---|---|---|
| US6815684B2 |
分析x射线装置，提供固态位置灵敏的x射线探测器 | Aeris * |
| US6823043B2 | 材料参数的确定 |
Aeris * |
| US9506880B2 CN104251870B. EP2818851A1 JP6403452B2 |
衍射成像 | Aeris * |
| US7116754B2 | 衍射仪 | Aeris * |
| US8488740B2. JP6009156B2. CN102565108B Ep2455747b1 (gb, fr, nl, de602011022779.3) |
衍射仪 | Aeris * |
| US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B Ep2088451b1 (gb, fr, nl, de602008041760.3) |
成像探测器 | Aeris * |
| Ep2088625b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602009040563.2) | 成像探测器 | Aeris * |
| US6704390B2 |
具有多层反射镜和出口准直器的x射线分析装置 | Aeris * |
| US9640292B2 JP6564572B2 CN104777179B Ep2896960b1 (gb, fr, nl, de602014012155.1) |
X射线设备 | Aeris |
| US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1（GB，FR，NL，DE602011055847.1） |
x射线衍射和计算机断层摄影术 | Aeris * |
| US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B Ep1947448b1 (ch + li, gb, fr, nl, de602007031351.1) |
用于x射线散射的x射线衍射设备 |
Aeris * |
| EP1287342B1（GB，FR，DE60147121.0） | x射线衍射仪 | Aeris * |
| US7477724B2 Ep1703276b1 (gb, fr, nl, de602005033962.0) |
X射线仪器 | Aeris * |
| US7194067B2 |
x射线光学系统 | Aeris * |
| US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1（CH + LI，GB，FR，NL，DE602011035906.1） |
x光快门安排 | Aeris |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B. Ep3043371b1 (gb, fr, nl, de602015012421.9) |
x射线管阳极布置 |
Aeris * |
*可选/非标准产品 |
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