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商标
| Trademark | 状态 |
|---|---|
| AERIS | ® |
| Aeris analytical. | ® |
| （ASD INC）标志 | ® |
| archimedes. | ® |
| 轴 | ® |
| Bohlin | ™ |
| 奇战 | ® |
| 克里斯斯 | ® |
| CUBIX. | ® |
| Cubix3（SuperIndex 3） | ® |
| 德科尔斯 | ™ |
| EAGON | ® |
| Eagon 2 | ® |
| 简单的撒克塞 | ® |
| empyrean. | ® |
| 埃斯利昂 | ® |
| epsilon x-flow | ® |
| EXPERT SAXS | ® |
| 简单的撒克塞 | ® |
| FieldSpec. | ® |
| FIPA | ® |
| 荧光 | ® |
| GALIPIX 3D | ® |
| 双子座 | ™ |
| goLab | ™ |
| 手持式2. | ™ |
| 高分 | ® |
| 水底 | ™ |
| iCore | ™ |
| (i logo) | ® |
| Indico Pro | ™ |
| Insitec. | ® |
| (Insitec logo) | ® |
| （Insitec测量系统标识） | ® |
| ISys | ® |
| Labsizer | ™ |
| LabSpec | ® |
| 莱内诺 | ® |
| 杰克斯 | ™ |
| 杰克斯-12 | ™ |
| m3 pals. | ™ |
| M4 | ™ |
| MADLS | ® |
| Malvern | ® |
| （三角山Logo + Malvern Instruments） | ® |
| 汉字的马尔曼 | ® |
| Malvern Instruments | ® |
| Malvern Instruments in Chinese characters | ® |
| Malvern Link | ™ |
| （Malvern Plus Hills Logo） | ® |
| Mastersizer | ® |
| 雄姐大师2000. | ™ |
| MC (stylised) | ® |
| MDRS | ® |
| Microcal | ® |
| 形态学 | ® |
| （三角山标志） | ® |
| Nanosight | ® |
| 尖端 | ™ |
| 油痕 | ® |
| 奥尼亚人 | ® |
| omnisec. | ® |
| 概要 | ® |
| 概要LOGO (picture) | ® |
| PANTOS. | ® |
| PEAQ-ITC | ® |
| PIXCEL | ® |
| PIXCEL 1D | ® |
| PIXCEL 3D | ® |
| QualitySpec | ® |
| （r徽标） | ® |
| （Realogica徽标） | ® |
| Spraytec | ™ |
| SST | ® |
| sst-max. | ® |
| 超锋利管 | ® |
| stratos. | ® |
| 超级Q. | ® |
| Synirgi. | ® |
| Terpaspec. | ® |
| TheOx® Advanced | ® |
| 超声器 | ® |
| 金星Minilab. | ® |
| ViewSpec | ™ |
| Viscogel | ® |
| Viscotek | ® |
| X’CELERATOR | ® |
| Xpert3（SuperIndex 3） | ® |
| Zetasizer. | ® |
| 硝酸 | ® |
| ZS Helix | ® |
专利
Malvern Panalytical has a range of unique, market leading, products that are protected by the following patent and patent applications
Mastersizer
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| EP1167946B1 (GB, FR, DE60135521D1) | 样品处理系统 | Hydro MV，Hydro LV, Hydro EV |
| GB2364774B. US6800251B2. |
样品处理系统for use in a particle characterisation apparatus | Hydro MV，Hydro LV |
| GB2494735B. | 通过光散射测量粒度分布的装置 | MS3000，MS3000E. |
| CN104067105B EP2756283B1（GB，FR，DE602012015707.0） US9869625B2 JP6154812B |
Apparatus and method for measuring particle-size distribution by light scattering | MS3000，MS3000E. |
| US10837889B2 GB2494734B. |
Apparatus and method for measuring particle-size distribution by light scattering | MS3000，MS3000E. |
Zetasizer.
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US7217350B2 |
表面充电产生的流动性和效应 | zetasizer推进范围，纳米zs，纳米z，纳米zs90，纳米zsp，螺旋 |
| EP2467701A1 CN102575984B. US9279765B2 JP5669843B2 US10317339B2 US20200096443A1 |
改进单散射模式检测的复杂流体的动态光散射微型学 | Zetasizer推进范围，纳米ZSP，螺旋 |
| CN103608671B CN105891304B EP2721399B1（如，CH + LI，DK，FR，GB，NL，DE602012031338.2，IT502017000050268） JP06023184B2 US9829525B2 US10274528B2 US20200072888A1 |
表面电荷测量 | Zeta板电池配件 |
| US8702942B2 CN103339500B. EP2652490B1（GB，FR，DE602011046775.1） JP06006231B2 JP06453285B2 US10648945B2 |
使用扩散屏障激光多普勒电泳 | Zetasizer推进范围，纳米ZS，纳米S，纳米ZS90，S90，纳米ZSP |
| EP2742337B1 (GB, FR, DE602012018122.2) US9816922B2 |
颗粒的双模表征 | Zetasizer.Helix |
| US10197485B2 US10520412B2. US10845287B2 EP3353527A1 JP2018535429A CN108291861A |
粒子表征 | Zetasizer推进范围 |
| US10119910B2 | 粒子表征instrument | Zetasizer推出：超级和专业人士 |
| US8675197B2 JP6059872B2 EP2404157B1. |
粒子表征 | Zetasizer推进配件 |
| EP3521806A1 US20210063295A1 CN111684261A WO2019154882A1 |
多角度动态光散射 | Zetasizer推出：超级 |
Insitec.
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US7418881B2 EP1592957B1 (GB) |
稀释系统和方法 | Insitec（一些产品） |
| US7871194B2 EP1869429A2 |
稀释系统和方法 | Insitec（一些产品） |
| EP2640499B1（GB） | 在线分散器和粉末混合方法 | Insitec Dry. |
形态学
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| EP2106536B1 (GB, FR, DE602008039489.1) US8111395B2. US8564774B2 |
偏强性的光谱调查 | 形态学G3-ID |
| GB2522735B. JP6560849B2 |
Method and Apparatus for Powder Dispersion | 形态学G3-ID, Morphologi G3 |
粘液器
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US2018067901A1 JP2018511129A EP3274864A1 CN107430593A |
Multi-Component Model Parameterisation | 粘液器TD. |
Hydro Sight
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8456633B2 | 光谱过程监测 | Hydro Sight |
| CN104704343B EP2864760A2 US10509976B2. |
异质流体样本表征 | Hydro Sight |
纳米典
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US7751053B2 JP04002577B2 EP1499871B1 (FR, DE60335872.1) GB2388189B. US7399600B2 |
用于分析粒子的光学检测 | 纳米典NS300 Nanosight NS500. 纳米典LM10 |
| EP3071944B1（GB，FR，DE602014059002.0） US9909970B2. JP6505101B2 CN105765364A |
仪器校准的改进或有关的改进 | 纳米典NS300 |
MicroCal ITC
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| CN101855541B EP2208057A1 JP05542678B2 US8449175C1 US8827549C1 |
等温滴定微量电流仪装置和使用方法 | 微量ITC系列 |
| CN102232184B. EP2352993B1 (CH+LI, GB, FR, DE602009044685.1) JP5476394B2 US9103782B2 US9404876B2 US10036715B2 US10254239B2 EP3144666B1（CH + LI，GB，FR，DE602009059932.1） US20200025698A1 EP3647776A1 |
Automatic Isothermal Titration Microcalorimeter Apparatus and method of Use | 微量ITC系列 |
微量DSC.
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8635045B2 CN103221808B. EP2646811A1 IN336472 JP5925798B2 |
在量热数据中自动峰值发现的方法 | 微量DSC.Range |
omnisec.
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US9759644B2 US10551291B2 |
Balanced Capillary Bridge Viscometer | omnisec. |
| US9612183B2 EP2619543B1 (GB, FR, DE602011011174.4) JP05916734B2 CN103168223B 在341558 |
模块化毛细管桥粘度计 | omnisec. |
站立XRF.
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B. EP2270410B1（GB，FR，NL，DE602009003389.1） |
珠炉 | Zetium Axios FAST epsilon5. |
| US6823043B2 | Determination of material parameters |
Zetium* Axios FAST* 2830 ZT（晶圆分析仪）* epsilon5.* Semyos.* |
| US7949092B2 |
执行X射线分析的装置和方法 |
Zetium* Axios FAST* 2830 ZT（晶圆分析仪）* epsilon5.* Semyos. |
| US6574305B2 |
Device and method for the inspection of the condition of a sample | Zetium* Axios FAST* 2830 ZT（晶圆分析仪）* epsilon5.* Semyos.* |
| JP4111336B2 | 用X射线测试样品的装置 |
epsilon5. |
| US7042978B2 | Examination of material samples | Zetium* Axios FAST* epsilon5. Semyos.* |
| JP5782451B2 EP2510397B1 (GB, FR, NL, DE602010021859.7) |
用横向图案制造多层结构的方法，用于在XUV波长范围内应用，以及根据该方法制造的BF和图像结构 | Zetium* Axios FAST 2830 ZT（晶圆分析仪）* epsilon5.* Semyos.* |
| US9658352B2 CN104833557B JP656263B2 JP6804594B2 |
制作标准的方法 | Zetium Axios FAST |
| EP2787342B1（GB，FR，NL，DE602013028642.6） JP6360151B2 |
Preparation of sample-pellets by pressing | Zetium Axios FAST |
| US10107551B2 EP2966039B1（GB，FR，NL，DE602014024004.2） JP6559486B2 CN105258987B |
使用助熔剂和铂坩埚制备XRF的样品 | Zetium Axios FAST |
| US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B EP3064931B1（GB，FR，NL，CH，DE） |
Quantitative X-ray Analysis - Matrix thickness correction | Zetium* Axios FAST |
| US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B EP3064933B1 (GB, FR, NL, CH, DE) |
定量X射线分析 - 多光路仪器 | Zetium* Axios FAST |
| US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1（GB，FR，NL，CH + LI，DE602016024126.9） |
Quantitative X-ray Analysis - Ratio correction | Zetium* Axios FAST |
| JP3936912B2 | 具有浮动盖的样品容器，用于液体X射线分析 | Zetium Axios FAST 2830 ZT (wafer analyser) epsilon5. Semyos. |
| US9239305B2 | 样本持有人 | Zetium* Axios FAST* epsilon5. |
| US7978820B2 |
X-ray diffraction and fluorescence | Zetium Axios FAST* 2830 ZT（晶圆分析仪）* epsilon5.* Semyos.* |
| US7720192B2. JP5574575B2 CN101311708B |
x射线荧光仪 | Zetium* Axios FAST* 2830 ZT（晶圆分析仪）* epsilon5.* Semyos.* |
| US7194067B2. |
X射线光学系统 | Zetium Axios FAST* 2830 ZT（晶圆分析仪）* epsilon5.* Semyos.* |
| US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B EP1983547B1（GB，FR，NL，DE602008000361D1） |
带金属线阴极的X射线源 | Zetium Axios FAST 2830 ZT (wafer analyser) epsilon5. Semyos. |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B EP3043371B2（GB，FR，NL，DE602015012421.9） |
X射线管阳极布置 |
Zetium Axios FAST 2830 ZT (wafer analyser) epsilon5. Semyos. |
| US10281414B2 EP3330701B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602017006751.2) EP3480587A1 US10393683B2 JP6767961B2 CN108132267A |
Conical collimator for X-ray measurements | Zetium* |
| *·产品可选/不是标准品 | ||
Benchtops XRF
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8210000B2 JP5554163B2 CN101941789B. EP2270410B1（GB，FR，NL，DE602009003389.1） |
珠炉 | epsilon 1系列 epsilon 3x光谱仪 epsilon 4空质量版 |
| US6823043B2 | Determination of material parameters |
epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| US7949092B2 |
执行X射线分析的装置和方法 |
epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| US6574305B2 |
Device and method for the inspection of the condition of a sample | epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| US7042978B2 | Examination of material samples | epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| US9658352B2 CN104833557B JP6562635B2 JP6804594B2 |
制作标准的方法 | epsilon 1系列 epsilon 3x光谱仪 epsilon 4空质量版 |
| EP2787342B1（GB，FR，NL，DE602013028642.6） JP6360151B2 |
Preparation of sample-pellets by pressing | epsilon 1系列 epsilon 3x光谱仪 epsilon 4空质量版 |
| US10107551B2 JP6559486B2 CN105258987B EP2966039B1（GB，FR，NL，DE602014024004.2） |
使用助熔剂和铂坩埚制备XRF的样品 | epsilon 1系列 epsilon 3x光谱仪 epsilon 4空质量版 |
| US9784699B2 JP6861469B2 CN105937890B EP3064931B1（GB，FR，NL，CH，DE） |
Quantitative X-ray Analysis - Matrix thickness correction | epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| US9739730B2 JP6706932B2 CN105938113B EP3064933B1（GB，FR，NL，CH，DE602016056347.9） |
定量X射线分析 - 多光路仪器 | epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| US9851313B2 JP6762734B2 CN105938112B EP3064932B1（GB，FR，NL，CH + LI，DE602016024126.9） |
Quantitative X-ray Analysis - Ratio correction | epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| JP3936912B2 | 具有浮动盖的样品容器，用于液体X射线分析 | epsilon 1系列 epsilon 3x光谱仪 epsilon 4空质量版 |
| US9239305B2 | 样本持有人 | epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| US9547094B2 CN104849295B. EP2908127B1 (CH+LI, GB, FR, NL, DE602014011398.2) JP6526983B2 |
X-ray analysis apparatus |
epsilon 1系列 epsilon 3x光谱仪 epsilon 4空质量版 |
| US7978820B2 |
X-ray diffraction and fluorescence | epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| US7194067B2. |
X射线光学系统 | epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| US8223923B2 JP5266310B2 CN101720491B EP1983547B1（GB，FR，NL，DE602008000361D1） |
带金属线阴极的X射线源 | epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B EP3043371B2（GB，FR，NL，DE602015012421.9） |
X射线管阳极布置 |
epsilon 1系列* epsilon 3x光谱仪* epsilon 4空质量版* |
| * Optional / not standard in product | ||
站立XRD
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US6815684B2 |
Analytical X-ray apparatus provided with a solid state position sensitive X-ray detector | Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) Cubix‖系列 |
| US6823043B2 | Determination of material parameters |
Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| US6574305B2 |
Device and method for the inspection of the condition of a sample | Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| US9506880B2 CN104251870B. EP2818851A1 JP6403452B2 |
Diffraction imaging | Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| US7116754B2 | 衍射仪 | Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| US8488740B2. JP6009156B2. CN102565108B EP2455747B1（GB，FR，NL，DE602011022779.3） |
衍射仪 |
Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B EP2088451B1（GB，FR，NL，DE602008041760.3） |
成像探测器 | Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| EP2088625B1（GB，FR，NL，CH + LI，DE602009040563.2） | 成像探测器 | Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| US9110003B2 CN103383363B EP2634566B1 (GB, FR, NL, DE602012058202.2) JP6198406B2 |
Microdiffraction. |
Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) Cubix‖系列 |
| US6704390B2 |
X-ray analysis apparatus provided with a multilayer mirror and an exit collimator | Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| US9640292B2 CN104777179B. EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) JP6564683B2 |
X射线设备 |
Empyrean X'Pert³ Powder Cubix‖系列 |
| US7756248B2 JP5145263B2 CN101545873B EP2090883B1（GB，FR，NL，DE602008002143D1） |
包装中的X射线检测 |
Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) |
| US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1（GB，FR，NL，DE602011055847.1） |
X-ray diffraction and computed tomography | Empyrean X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B. EP1947448B1（CH + LI，GB，FR，NL，DE602007031351.1） |
用于X射线散射的X射线衍射设备 |
X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* |
| EP1287342B1（GB，FR，DE60147121.0） | X射线衍射仪 | Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| US7477724B2 EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0) |
X射线仪器 | Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列 |
| US7194067B2. |
X射线光学系统 | Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1（CH + LI，GB，FR，NL，DE602011035906.1） |
X-ray shutter arrangement | Empyrean X'Pert³ Powder X'Pert³ MRD (XL) Cubix‖系列 |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B EP3043371B1（GB，FR，NL，DE602015012421.9） |
X射线管阳极布置 |
Empyrean* X'Pert³ Powder* x'pert³mrd（xl）* Cubix‖系列* |
| EP3553508A2 US20190317030A1 JP2019184609A CN110389142A |
X-ray analysis apparatus and method | Empyrean* |
| US10359376B2 EP3273229A1 JP6701133B2 CN107643308A |
样本持有人for X-ray analysis | Empyrean* |
| * Optional / not standard in product | ||
QualitySpec 7000.
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US8164747B2 CA2667650C EP2092296B1 (CH+LI, NL, SE, DK, DE602007045593.6) |
Apparatus, system and method for optical spectroscopic measurements | QualitySpec 7000. |
Terpaspec.Halo
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US9207118B2. | Apparatus, system and method for scanning monochromator and diode array spectrometer instrumentation | Terpaspec.Halo |
QualitySpec Trek.
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US9207118B2. | Apparatus, system and method for scanning monochromator and diode array spectrometer instrumentation | QualitySpec Trek. |
台式XRD
| Patent Numbers | 专利冠军 | 仪器 |
|---|---|---|
| US6815684B2 |
Analytical X-ray apparatus provided with a solid state position sensitive X-ray detector | Aeris * |
| US6823043B2 | Determination of material parameters |
Aeris * |
| US9506880B2 CN104251870B. EP2818851A1 JP6403452B2 |
Diffraction imaging | Aeris * |
| US7116754B2 | 衍射仪 | Aeris * |
| US8488740B2. JP6009156B2. CN102565108B EP2455747B1（GB，FR，NL，DE602011022779.3） |
衍射仪 | Aeris * |
| US7858945B2 JP5254066B2 CN101521246B EP2088451B1（GB，FR，NL，DE602008041760.3） |
成像探测器 | Aeris * |
| EP2088625B1（CH + LI，GB，FR，NL，DE602009040563.2） | 成像探测器 | Aeris * |
| US6704390B2 |
X-ray analysis apparatus provided with a multilayer mirror and an exit collimator | Aeris * |
| US9640292B2 JP6564572B2 CN104777179B. EP2896960B1 (GB, FR, NL, DE602014012155.1) |
X射线设备 | Aeris |
| US8477904B2 JP5752434B2 CN102253065B EP2365319B1（GB，FR，NL，DE602011055847.1） |
X-ray diffraction and computed tomography | Aeris * |
| US7542547B2 JP5280057B2 CN101256160B. EP1947448B1（CH + LI，GB，FR，NL，DE602007031351.1） |
用于X射线散射的X射线衍射设备 |
Aeris * |
| EP1287342B1（GB，FR，DE60147121.0） | X射线衍射仪 | Aeris * |
| US7477724B2 EP1703276B1 (GB, FR, NL, DE602005033962.0) |
X射线仪器 | Aeris * |
| US7194067B2. |
X射线光学系统 | Aeris * |
| US8437451B2 JP5999901B2 CN102610290B EP2477191B1（CH + LI，GB，FR，NL，DE602011035906.1） |
X-ray shutter arrangement | Aeris |
| US9911569B2 JP2016131150A CN105810541B EP3043371B1（GB，FR，NL，DE602015012421.9） |
X射线管阳极布置 |
Aeris * |
* Optional / not standard in product |
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