röntgenfluoreszenzpektroskopieund rfa-anwendungen
DieRöntgenfluoreszenzananalyse(RFA)IST Ein分析Verfahren,Das Zur Bestimmung der Chemischen Zusammensetzung Unterchiedlichster Probentypen Eingesetzt Werden Kann。HierzuGehörenfestoffe,Flüssigkeiten,暂停突破粉碎。DieRöntgenfluoreszenzanalyseWird Auch Zur Bestimmung der Dicke und Zusammensetzung von Schichten und Beschichtungen Eingesetzt。ESKönnen元素von Bryllium(BE)BIS URAN(U)在Konzentrationsbereichen von 100 Gew .-%BIS HIN Zur Sub-PPM-EBENE分析WERDEN。
Die RFA分析IST Ein Robustes Verfahren,DasHohePräzisionund Genaurigkeit Mit Einfacher,Schneller Probovormorcung Vereint。Sie KannFürdeneinsatz在Hochdurchsatz-Umgebungen Leicht Automatisiert Werden。Darüberhinaus Liefert Die RFA Sowohl定性Als Auch定量信息Zu Einer探头。Eine Einfache Kombination Aus Den Informenten“是?”und“Wie Viel?”ErmöglichtAucheeineSchnelleScothingAnalyse(SemiquirititaTIV)。
Die RFA IST EINE原子排放物理机门码,Dieser Hinsicht der Optischen Emissionsspektroskopie(OES),Der Massenspektrometrie Mit Induktiv Gekoppeltem等离子(ICP)und Der NeutronenaktivierungsAnalyse(Gamma-Spektroskopie)Ähnelt。Bei Solchen Methoden Werden DieWellenlängeund DieIntensitätvon“Licht”(在柴油秋天röntgenstrahlen)Gemessen,Das Von Energetisieren atomen在Der Probe Emittiert Wird。北德·罗德·威尔斯拉姆·斯特拉昂·埃因·普雷斯·雷恩·雷恩·雷恩·雷恩斯·冯···普罗尔·塞勒德···普罗斯···斯诺德··沃尔···冯··沃尔····沃尔···戈尔···戈尔···戈尔···戈尔···戈尔···戈尔···戈尔····戈尔····戈尔···戈尔···戈尔·Elemerkmalen der in der ProbeNen Elemente。
DasfürieTrennung(色散),Bestimmung undIntensitätsmessungeinesRöntgenfluoreszenzzentspektrumsEingesetzte verfahrenführtzu zwei haupttypen von spektromern:Wellenlängendispersive(WDRFA)und.Energiedispersive(Edrfa)Systeme。
Wir Bieten Eine Breite调色板ANRÖNTGENFLUERSZENZZENZLÖSUNGLÖSUNGLÖSUNGLÖSUNGENZUR ZHER ZHONLVON MILTORIEN und Anwendungen,Die SowohlWellenlängendispersiveAls AuchEnergiedispersiveLösungenUmfassen。Entedecken SieOneerLösungsPortfolio在Der Folgenden Tabelle:
![]() 硝酸元素leistung |
![]() epsilon-serieSchelle und Genaue ElementAranalyse - Vor Ort Und在线 |
![]() Axios快速Hoher Probendurchsatz. |
![]() 2830 ZT.FortgesChritteneLösungFürieHalbleiter-Dünnschicht-Messtechnik |
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典型der messung. | ||||
dünnschicht-messtechnik | ||||
ElementarAnalyse. | ||||
Erkennung und Analyze von Verunreinigungen | ||||
Quantifizierung von元素 | ||||
Chemische Intefipimation | ||||
Technologie. | ||||
波长分散X射线荧光(WDXRF) | ||||
能量分散X射线荧光(EDXRF) | ||||
Elemertbereich. | 光束 | F-AM | B-AM | B-AM |
LLD. | 0.1 ppm - 100% | 1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% | 0.1 ppm - 100% |
Auflösung(MG-KA) | 35ev. | 145EV. | 35ev. | 35ev. |
Probendurchsatz. | 160per 8h日 - 240per 8h日 | 高达 - 160per 8h日 | 8小时天 - 480per 8h日 | 每小时最多25个晶圆 |